YY/T 1732-2020

口腔曲面體層X射線模體

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1. 口腔曲面體層X射線模體介紹與結(jié)構(gòu)

A. 1. 放大率一致性和畸變

按下列方法進(jìn)行：

a)曲面體層攝影

將放大率一致性試驗(yàn)器件放置在64中的位置上 ，選擇適當(dāng)條件進(jìn)行曝光 ，在得到的圖像上測(cè)量全部鋼珠水平方向直徑記為計(jì)算放大率一致性： 為視野內(nèi)可見的全部完整圖像的數(shù)量 。在圖像上測(cè)量垂直方向直徑 ，重復(fù)上述計(jì)算。

b)頭影測(cè)量

將測(cè)試卡放置在成像基準(zhǔn)面上，測(cè)量測(cè)試卡中圓形的水平、垂直方向直徑，按式計(jì)算放大率一致性，其中的取值為視野內(nèi)可見的最多完整圓形數(shù)量。

將測(cè)試卡放置在成像基準(zhǔn)面上使網(wǎng)格軸線與視野軸線平行用合適的加載因素進(jìn)行暖光。選出X軸方向位置zui高、zui低的完整網(wǎng)格線及Y軸方向位置最左最右的完整網(wǎng)格線，這4條線的交點(diǎn)及其與視野軸線的交點(diǎn)如圖A. 1所示。

圖A. 1  畸變測(cè)試圖像

注 ：計(jì)算X軸畸變：(PR-AD| PR-BCI)/2)/PRX100%； 計(jì)算Y軸畸變：(SQ-AB+SQ-CD)/2)/SQX100%； 式中的長度為兩點(diǎn)間直線段的長度。

A.2. 聚焦層定位模塊布置

首先大致確定一條假想的聚焦層軌跡，分別在圖 A. 1 所示的5個(gè)位置對(duì)稱放置聚焦層定位模塊，聚焦層定位模塊定位裝置見圖A.2，在移動(dòng)模塊確定聚焦層時(shí)要遵循先平移后旋轉(zhuǎn)的順序。

圖A. 2  聚焦層定位模塊布置

圖A. 3  聚焦層定位模塊定位裝置

A. 3. 測(cè)試模塊布局

測(cè)試模塊應(yīng)當(dāng)放置在用聚焦層定位模塊所確定的聚焦層位置處，其測(cè)試器件部分（如放大率一致性模塊的中心平面、低對(duì)比度分辨率測(cè)試模塊的帶孔表面） 應(yīng)當(dāng)與定位模塊投影中心對(duì)齊，方向應(yīng)與定位模塊一致，見圖A.4與圖A. 5。

圖A.4  測(cè)試模塊布局

圖A. 5  測(cè)試模塊定位裝置（以低對(duì)比度分辨率模塊為例）

2. 曲面體層攝影測(cè)試模體

B. 1. 聚焦層定位模塊

由5個(gè)傾斜放置的鋼珠如圖B. 1所示鑲嵌在長方體PMMA模塊中，內(nèi)部鋼珠直徑為 5mm；內(nèi)部鋼珠水平方向偏移量分別為 -10mm、-5mm、0 mm、5mm、10mm， 鋼珠球心的垂直方向間距為 10 mm。

單位為毫米

圖B. 1  聚焦層定位模塊

B.2. 全景放大率一致性測(cè)試模塊

由7個(gè)在一條垂線上放置的鋼珠，如圖B.2所示，鑲嵌在長方體PMMA模塊中，內(nèi)部鋼珠直徑為5mm，球心間距為15mm。

單位為毫米

圖B. 2  全景放大率一致性測(cè)試模塊

B. 3. 全景低對(duì)比度測(cè)試模塊

低對(duì)比度模塊如圖B. 3所示，在15mm厚純鋁體模上加工直徑為3mm，深度不同的小孔，孔深對(duì)應(yīng)的低對(duì)比度值見表 B. 1。

單位為毫米

圖B. 3  全景低對(duì)比度測(cè)試模塊

表 B. 1   模體規(guī)格

B.4. 全景分辨率測(cè)試卡

全景分辨率測(cè)試卡如圖B.4所示，鉛片厚度為0.03mm。

圖B. 4  全景分辨率測(cè)試卡

B. 5. 多功能測(cè)試卡模體

頭影測(cè)量使用的測(cè)試模體由衰減體和一個(gè)多功能測(cè)試卡(見圖B. 5)組成，可用于動(dòng)態(tài)范圍、空間分辨率、低對(duì)比度分辨率等測(cè)試。

衰減體是一個(gè)25mm厚的鋁板，其純度不低于995%，放置在盡可能靠近限束器出口處。多功能測(cè)試卡由下面幾個(gè)部件構(gòu)成，總厚度為18. 5mm：

a)基體銅板，其厚度為15mm，邊長為300mmx300mm；

b)動(dòng)態(tài)范圍的測(cè)量銅階楔(見圖B. 5中2)其外徑為150mm，內(nèi)徑為110mm，由17個(gè)階梯組成，每一階梯銅厚度在表1中規(guī)定。表中銅厚度包括上述銅板的厚度(15mm)，階梯1到階梯 8比基體銅板薄，階梯10~階梯17比基體銅板厚。

圖B. 5  多功能測(cè)試卡模體

說明:

1——X射線管軸方向；

2——?jiǎng)討B(tài)階楔；

3——12個(gè)直徑10mm的低對(duì)比度孔；

4——空間分辨率測(cè)試卡；

5——影像接收面刻度尺。

3. 頭影測(cè)量測(cè)試卡

C. 1. 頭影測(cè)量、放大率一致性測(cè)試卡

矩形PMMA測(cè)試卡內(nèi)嵌有如圖C. 1 的尺寸測(cè)量及有效成像區(qū)域測(cè)試器件。

單位為毫米

圖C. 1  頭影測(cè)量 、放大率一致性測(cè)試卡

C.2. 頭影測(cè)量畸變測(cè)試卡

矩形PMMA測(cè)試卡內(nèi)建如圖C.2 的高透過率與低透過率材質(zhì)交替的棋盤格，每個(gè)正方形小格的邊長是10mm。

圖C.2  頭影測(cè)量畸變測(cè)試卡

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