氧化鋯 比表面
- 公司名稱 北京國儀精測技術(shù)有限公司
- 品牌 國儀量子
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2021/5/21 15:54:37
- 訪問次數(shù) 1410
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比表面及孔徑分布分析儀V-Sorb 4800P是金埃譜科技自主研發(fā)的全自動智能化比表面積和孔徑檢測儀器,采用靜態(tài)容量法測量原理,眾多著名科研院所及500強企業(yè)應(yīng)用案例,相比國內(nèi)同類產(chǎn)品,金埃譜比表面及孔徑分布分析儀多項*技術(shù)的采用使產(chǎn)品整體性能更加完善,金埃譜比表面及孔徑分布分析儀測試結(jié)果的準確性和*性進一步提高,金埃譜比表面及孔徑分布分析儀測試過程的穩(wěn)定性更強,金埃譜比表面及孔徑分布分析儀達到同類產(chǎn)品良好水平,部分功能超越國外產(chǎn)品.
金埃譜科技是早參與比表面積標準物質(zhì)標定的機構(gòu),測試結(jié)果與國外數(shù)據(jù)可比性平行性,并獲取認證機構(gòu)的檢測證書,同時金埃譜科技也是國內(nèi)同行業(yè)中注冊資本規(guī)模zui大,*通過ISO9001質(zhì)量認證的生產(chǎn)企業(yè),雄厚實力和完善的質(zhì)量及服務(wù)體系,讓您選購的產(chǎn)品無后顧之憂!
4站全自動比表面及孔徑分布分析儀技術(shù)參數(shù)
測試方法及功能:真空容量法(真空靜態(tài)法),吸附及脫附等溫線測定,BJH總孔體積及孔徑分析,樣品真密度測定,t-plot圖法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面積測定(單點及多點),Langmuir法比表面積測定,平均粒徑估算,t-plot圖法外比表面積測定
測定范圍:0.01(m2/g)--至無上限(比表面積);0.35nm-2nm(微孔);2nm-500nm(中孔或介孔)
測量精度:重復性誤差小于1.5%
真空系統(tǒng):V-Sorb*的集裝式管路及電磁閥控制系統(tǒng),大大減小管路死體積空間,提高檢測吸附氣體微量變化的靈敏度,從而提高孔徑分析的分辨率;同時集裝式管路減少了連接點,大大提高密封性和儀器使用壽命
液位控制:V-Sorb*的液氮面控制系統(tǒng),確保測試全程液氮面相對樣品管位置保持不變,*消除因死體積變化引入的測量誤差
控制系統(tǒng):采用可編程控制器電磁閥控制系統(tǒng),高集成度和抗干擾能力,提高儀器穩(wěn)定性和使用壽命
樣品數(shù)量:同時進行4個樣品分析和4個樣品脫氣處理,樣品測試系統(tǒng)和樣品處理系統(tǒng)必需相互獨立,并且樣品測試和樣品脫氣處理必需可以同時進行,避免了測試管路受到污染,從而進一步確保測試的精度和提高儀器使用壽命
壓力測量:采用壓力分段測量的進口4支壓力傳感器,顯著提高低 P/Po點下測試精度,2支0-1000 Torr(0-133Kpa),2支0-10 Torr (0-1.33Kpa),必須提供進口檢測證書
壓力精度:進口硅薄膜壓力傳感器,精度達實際讀數(shù)的0.15%,優(yōu)于全量程的0.15%,遠高于皮拉尼電阻真空計精度(一般誤差為10%-15%)
分壓范圍:P/Po 準確可控范圍達5x10-6-0.995
極限真空:4x10-2Pa (3x10-4Torr)
樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等
測試氣體:高純N2氣(99.999%)或其它(按需選擇如Ar,Kr)
數(shù)據(jù)采集:高精度及高集成度數(shù)據(jù)采集模塊,誤差小,抗干擾能力強
數(shù)據(jù)處理:Windows兼容數(shù)據(jù)處理軟件,功能完善,操作簡單,多種模式數(shù)據(jù)分析,圖形化數(shù)據(jù)分析結(jié)果報表
4站全自動比表面及孔徑分布分析儀特點
A.比表面及孔徑分布分析儀真空系統(tǒng)
1)*的一體化集裝式管路系統(tǒng),采用進口集裝管路,顯著減少管路連接點,大大降低漏氣率,提高極限真空度;
2)模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計,一體式集裝管路,需人工進行連接的部件少,有利于根據(jù)用戶需求按需配置及后期功能擴展,有利于維修更換;
3)采用德國*的真空泵,噪音小,運行穩(wěn)定,防油返功能,極限真空度高,可達4x10-2Pa (3x10-4Torr).
B.比表面及孔徑分布分析儀控制系統(tǒng)
1)采用廣泛應(yīng)用于工業(yè)控制系統(tǒng)中的可編程控制器電磁閥控制系統(tǒng),抗干擾能力強,穩(wěn)定性大大提高,安裝及拆卸都非常方便;
2)*設(shè)計的測試系統(tǒng)管路和樣品處理管路分離結(jié)構(gòu),有效防止樣品處理過程中產(chǎn)生的雜質(zhì)對測試管路的污染.
C.比表面及孔徑分布分析儀提高測試精度措施
1)采用與同類進口產(chǎn)品相同品牌的高精度硅薄膜壓力傳感器,壓力測量精度為相應(yīng)讀數(shù)的0.15%,遠遠優(yōu)于0.15%的全量程精度(FS)傳感器;
2)與國外同類產(chǎn)品類似,采用0-10Torr和0-1000Torr雙壓力傳感器,對測試范圍內(nèi)的壓力采用分段測量,大大降低了低真空下的測量誤差,0-10Torr的硅薄膜壓力傳感器精度遠高于相同量程的皮拉尼電阻真空計(一般誤差為10%-15%);
3)*的一體化集裝式管路系統(tǒng),采用進口集裝管路,顯著減少管路連接點,大大減少死體積空間,有利于降低測量誤差;
4)*的步進式液氮面控制系統(tǒng),確保測試全程液氮面相對樣品管位置保持不變,*消除因死體積變化引入的測量誤差;
5)*設(shè)計的抽氣及進氣控制系統(tǒng),有效防止樣品抽真空和進氣過程中的飛濺,確保測試氣路的清潔和樣品質(zhì)量無損失,保護高精度壓力傳感器免受壓力巨變可能導致的零點和線性漂移.
D.比表面及孔徑分布分析儀數(shù)據(jù)采集及處理
1)采用高精度及高集成度數(shù)據(jù)采集模塊,連接方便,誤差小,抗干擾能力;采用業(yè)界標準的485通訊模式,有利于設(shè)備擴展和互連,可方便轉(zhuǎn)換為所需的RS232和USB通訊模式;
2)多種理論計算模型數(shù)據(jù)分析,為用戶提供*的材料分析方案;強大的測試數(shù)據(jù)歸檔保存,查詢系統(tǒng),有利于用戶數(shù)據(jù)管理.