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產(chǎn)品展廳

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發(fā)布詢價(jià)單

化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學(xué)儀器及設(shè)備>光學(xué)顯微鏡>其它顯微鏡> 透射電鏡樣品制備,離子切割設(shè)備,超薄切片設(shè)備

透射電鏡樣品制備,離子切割設(shè)備,超薄切片設(shè)備

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
產(chǎn)品標(biāo)簽

掃描電鏡樣品前處理設(shè)備

聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


 

徠卡顯微鏡,體視顯微鏡,金相顯微鏡,顯微鏡攝像頭,電鏡制樣設(shè)備,原子力顯微鏡,

 

Leica EM TXP定點(diǎn)修塊拋光機(jī)
 
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Leica EM TXP定點(diǎn)修塊拋光機(jī)

徠卡EM TXP 標(biāo)靶面制備系統(tǒng)是用鋸,磨,銑削,拋光樣品后,供掃描電鏡,透射電鏡,和LM技術(shù)檢測(cè)。

帶有一體化體視鏡,用于精確定位及對(duì)較細(xì)微難以觀察的目標(biāo)位置進(jìn)行樣品處理時(shí)觀察;使用樣品旋轉(zhuǎn)手柄,可以改變樣品觀察角度,0°-60°可調(diào),或者垂直于樣品前表面90°觀察,可利用目鏡刻度標(biāo)尺測(cè)量距離。

為您帶來的優(yōu)勢(shì)

 

 

   

一體化自動(dòng)程序控制

一體化自動(dòng)程序控制,包括自動(dòng)左右制動(dòng)機(jī)制,前進(jìn)反饋力控制,倒計(jì)數(shù)功能等,為使用者節(jié)約大量時(shí)間。

表面光潔度和標(biāo)靶檢測(cè)

表面處理與目標(biāo)檢測(cè),都通過一體化體視鏡來完成,用戶不需要專程將樣品拿出來再進(jìn)行表面觀察檢測(cè),這可大大提高使用者的工作效率。

適配工具多樣性

可適配多種多樣工具,從而使樣品不經(jīng)轉(zhuǎn)移就可以進(jìn)行研磨,切割,鉆孔,打磨及拋光。并且整個(gè)處理過程都可通過體視鏡進(jìn)行觀察監(jiān)控,大大節(jié)省時(shí)間和費(fèi)用。

 
適配工具多樣性

 

Leica EM UC7 為室溫和冷凍*切片而設(shè)計(jì)
 
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Leica EM UC7 為室溫和冷凍*切片而設(shè)計(jì)

徠卡EM UC7提供半薄超薄切片和容易準(zhǔn)備,以及樣品表面光滑處理,為透射電鏡,掃描電鏡,原子力顯微鏡和光鏡檢驗(yàn)生物和工業(yè)樣品。


超薄切片的新標(biāo)準(zhǔn)


徠卡EM UC7樹立新標(biāo)準(zhǔn)結(jié)合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)和創(chuàng)新技術(shù)。它的功能對(duì)    

技能或初學(xué)超薄切片者都能獲得利用效益。

 

為您帶來的優(yōu)勢(shì)

 

 

無紙報(bào)告 改進(jìn)刀,標(biāo)本的能見度

無紙報(bào)告

輕松下載的用戶,樣品,刀和存儲(chǔ)參數(shù),通過USB,到Excel(只通過10.4“控制器)

 

改進(jìn)刀,標(biāo)本的能見度

獨(dú)三個(gè)獨(dú)立,內(nèi)置亮度可調(diào)的LED光源和額外提供兩個(gè)的照明LED射燈

你的桌子上更多的工作空間

離子發(fā)生器和EM FC7控制集成到徠卡EM UC7單元 - 沒必要額外的控制臺(tái)

刀使用信息

利用10.4“控制器把鉆石刀刃分成部分,確保鉆石刀刃完整長度的*使用(申請(qǐng))

Leica EM TRIM2 修塊機(jī)
 
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型號(hào):Leica EM TRIM2   參考價(jià)格:面議   產(chǎn)地:德國 

電鏡樣品修塊機(jī)不要60秒就修完一個(gè)金字塔!Leica TRIM2是一體化立體顯微鏡和LED環(huán)形照明的高速銑磨系統(tǒng),適用于超薄切片前的生物樣品和工業(yè)樣品修塊的制備。 

全新設(shè)計(jì)的Leica TRIM2通過可調(diào)的樞軸臂能提供*化的樣品制備角度,快速地將電鏡樣品或光鏡樣品修整成金字塔型或四棱柱型等,而整個(gè)修塊過程都可以在一體的立體顯微鏡下實(shí)時(shí)觀察。另外樞軸臂上的樣品托盤可以對(duì)包埋樣品做居中調(diào)節(jié),方便后續(xù)樣品修塊。 

技術(shù)參數(shù): 

1μm步進(jìn)

主要特點(diǎn):

體視鏡正面觀察樣品

Leica EM TRIM2 修塊機(jī)

徠卡EM RES101多功能離子束研磨儀
 
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全計(jì)算機(jī)控制的多功能離子減薄系統(tǒng),有高度的靈活性

主要特點(diǎn):

減薄角度可調(diào)由0º至90º

一體化設(shè)計(jì),重復(fù)性實(shí)驗(yàn)設(shè)備,可靠具操作性

全電腦控制,精確的參數(shù)調(diào)整,運(yùn)行中無需人干涉

鞍式離子槍,高能量-快速蝕刻

制冷系統(tǒng),銅傳導(dǎo),確保TEM,SEM在低溫下操作

主機(jī)內(nèi)置2級(jí)泵,確保高真空

減少裝卸時(shí)間,高效率

操作簡便直觀,帶自保護(hù)防止離子溢出與過熱功能

法拉力環(huán)檢查樣品是否穿孔,自動(dòng)終止功能

裝載閘保持系統(tǒng)高真空度穩(wěn)定不變

減薄過程中離子能量高低可調(diào)

內(nèi)置視頻監(jiān)視器,直接觀察樣品減薄情況

可編程,觸摸屏設(shè)計(jì),直觀操作

Leica EM TIC 3X三離子束切割儀
 
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Leica EM TIC 3X三離子束切割儀

幾乎任何材質(zhì)樣品都可獲得高質(zhì)量截面,在沒有任何變形或損傷的情況下揭開樣品內(nèi)部zui真實(shí)結(jié)構(gòu)信息,在使用徠卡EM TIC3X之前,這類工作從未變得如此之簡單。 
徠卡EM TIC 3X三離子束切割儀適宜處理軟/硬復(fù)合、帶有孔縫結(jié)構(gòu)、熱敏感性、脆性及非均質(zhì)樣品,獲得樣品截面,從而進(jìn)行掃描電子顯微鏡(SEM),微區(qū)分析(EDS,WDS,Auger,EBSD)及原子力顯微鏡或掃描探針顯微鏡(AFM,SPM)檢測(cè)。 
三離子束(分別獨(dú)立控制),冷凍樣品臺(tái)及多樣品臺(tái),確保離子束對(duì)樣品處理高效,切割區(qū)域?qū)捛疑?,從而獲得高質(zhì)量截面切割結(jié)果。

為您帶來的優(yōu)勢(shì)
1、*性能*的三離子束系統(tǒng),可獲得*的截面處理質(zhì)量,并可高效獲得寬且深的切割區(qū)域,大大降低工作時(shí)間。并可實(shí)現(xiàn)在一次處理過程中zui多處理3個(gè)樣品。因此對(duì)有高通量需求的實(shí)驗(yàn)室,徠卡EM TIC 3X是*解決方案。
2、樣品托多種多樣的樣品托,適合于各類尺寸樣品。
3、可裝配系統(tǒng)根據(jù)您的樣品制備需要,可以有針對(duì)性地在徠卡EM TIC 3X上裝配一體化設(shè)計(jì)樣品臺(tái)-標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái),多樣品臺(tái)或冷凍樣品臺(tái)。
4、樣品TOPO結(jié)構(gòu)清晰可見除了剖面切割,使用同一樣品托還可對(duì)樣品進(jìn)行清潔及增強(qiáng)襯度的功能。
5、冷凍樣品臺(tái)針對(duì)溫度敏感型樣品如橡膠或水溶性高分子聚合纖維等,可以使用冷凍樣品臺(tái)對(duì)樣品進(jìn)行低溫下處理,獲得高質(zhì)量處理結(jié)果。樣品托和擋板的溫度都可達(dá)到-150° C。



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