P3 粗糙度測量儀P3
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 微納（香港）科技有限公司 微納科儀（北京）科技有限公司
- 品牌
- 型號 P3
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2016/9/7 14:13:47
- 訪問次數(shù) 382
產(chǎn)品標(biāo)簽
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- 測量具有非破壞性：采用白光共聚焦技術(shù)，可獲得納米級分辨率
- 測量范圍大：15mm×15mm，無需進(jìn)行圖像拼接
- 可測樣品的zui大坡度：87oC
- 測量范圍廣：可測平面、曲面、球面、透明、半透明、高曲折度、拋光、粗糙樣品
- 不受環(huán)境光的影響
- 不受樣品反射率與形狀的影響
- 操作簡單：樣品無需特殊處理優(yōu)于傳統(tǒng)的探針技術(shù)與干涉技術(shù)形貌儀
主要技術(shù)參數(shù)：
1，掃描范圍：1×1，2×2，3×3，4×4，5×5，10×10，15×15（mm）
2， 掃描步長：1×1，2×2，5×5（μm）
3， Z方向測量范圍：300μm
4， Z方向測量分辨率：8nm
5， Z方向測量精度：60nm
6，橫向光學(xué)分辨率：2.6μm
產(chǎn)品應(yīng)用：
MEMS、半導(dǎo)體材料、太陽能電池、醫(yī)療工程、制藥、生物材料，光學(xué)元件、陶瓷和*材料的研發(fā)
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