Zeta電位分析 納米顆粒分析儀
- 公司名稱 昂奇科技(上海)有限公司
- 品牌 HORIBA/堀場
- 型號 Zeta電位分析
- 產(chǎn)地 日本
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2018/5/14 9:00:00
- 訪問次數(shù) 789
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根據(jù)不同的配置和應(yīng)用程序可以完成顆粒度的分析,zeta電位的檢測,分子量(Mw)以及第二維利系數(shù)(A2)的測定。SZ-100的典型應(yīng)用包括:納米顆粒,膠體,乳液以及亞微米懸浮液。顆粒分析儀采用動態(tài)光散射原理(DLS)。根據(jù)樣品的物理性質(zhì),動態(tài)測量范圍為0.3 nm – 8 μm。檢測范圍的下限受到以下因素的影響:樣品濃度、樣品對光的散射強度以及大的雜質(zhì)顆粒的存在。檢測上限受樣品濃度影響,因為DLS原理是顆粒的布朗運動而不是重力沉降。
SZ-100以顆粒表面電荷特性來檢測懸浮液的zeta電位。將樣品注入一次性樣品池,通過顆粒電泳遷移率的結(jié)果計算zeta電位。 zeta電位通常是樣品分散穩(wěn)定性的一個指標。Zeta電位的數(shù)值較大表明顆粒帶電較多,斥力較大,較難發(fā)生團聚,溶液保持穩(wěn)定。通常根據(jù)pH值或其他化學參數(shù)的改變檢測zeta電位以便于設(shè)計可長時間保存的產(chǎn)品。相反地,發(fā)現(xiàn)zeta電位為零時(就是說,樣品處于等電點),就要考慮選擇*條件將顆粒進行絮凝和分離。
SZ-100還可以用于檢測蛋白質(zhì)、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數(shù)。用戶準備幾個已知濃度的溶液,然后使用系統(tǒng)的靜態(tài)光散射模式繪制Debye曲線,從而計算出Mw和A2。
特征
將粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數(shù)的檢測集于一身
寬檢測范圍,寬濃度范圍
雙光路雙角度粒徑測量(90° 和173°)
多重粒徑測量模式用于小顆粒和微弱散射光
用于粒徑和zeta電位檢測的微量樣品池
自動滴定儀:可用于zeta電位測量過程中pH值的自動滴定
規(guī)格
粒徑:動態(tài)光散射原理(DSL)
測量范圍
- 顆粒直徑:0.3nm-8.0μm
測量精度
- 粒徑:按照ISO 13321/22412
- 可溯源的NIST聚苯乙烯乳膠顆粒:100nm測量精度= +/- 2%
濃度
- 下限:0.1 mg/mL溶菌酶
- 上限:40 wt % (視樣品而定)
測量時間
- 粒徑分析一般需大約2分鐘(可自行設(shè)定)
樣品池
- 比色皿樣品池
取樣量
- 12μl ~ 4ml* (* 取樣量取決于樣品池容量。)
Zeta電位:激光多普勒法
測量范圍
- -200 – +200mV
測量時間
- 一般需大約2分鐘
樣品池
- 一次性樣品池
取樣量
- ~100μl,一次性樣品池
分子量:靜態(tài)光散射德拜曲線法
測量范圍
- Mw: 1×103 - 2×107 g/mol
樣品池
- 比色皿樣品池
物理參數(shù)
電源:AC 100-240V, 50/60Hz, 150VA
激光:二極管泵浦倍頻激光器 532 nm,10 mW I級
接口:USB 2.0,連接電腦與設(shè)備
外形尺寸:385(D) ′ 528(W) ′ 273(H) mm (不計凸起部分)
重量:25kg
控溫范圍:1-90℃,電極池和塑料池上限為70℃
工作環(huán)境:15-35℃,相對濕度≤85%,無結(jié)露
冷凝控制:可連接吹掃氣