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日立分析儀器(上海)有限公司

化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>分析儀器>光譜>原子熒光光譜(AFS)>Nanolog Nanolog近紅外熒光光譜儀

Nanolog Nanolog近紅外熒光光譜儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 HORIBA科學(xué)儀器事業(yè)部
  • 品牌 HORIBA/堀場(chǎng)
  • 型號(hào) Nanolog
  • 產(chǎn)地 美國(guó)
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間 2024/1/23 15:46:34
  • 訪問(wèn)次數(shù) 6846

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HORIBA 科學(xué)儀器事業(yè)部(HORIBA Scientific)隸屬 HORIBA 集團(tuán),致力于為用戶提供先進(jìn)的檢測(cè)和分析儀器:包括元素分析、熒光、刑偵、ICP、粒度表征、激光拉曼光譜、橢圓偏振光譜、油中硫分析、水質(zhì)和XRF等分析儀器。

結(jié)合旗下的技術(shù)優(yōu)勢(shì),包括擁有200多年發(fā)展歷史的光譜制造技術(shù)Jobin Yvon,以及擁有*技術(shù)優(yōu)勢(shì)的IBH, SPEX, Instruments S.A, ISA, Dilor, Sofie, SLM以及 Beta Scientific等。今天,HORIBA Scientific 的各種檢測(cè)分析儀器已經(jīng)遍布各地,并在中國(guó)實(shí)現(xiàn)了銷售和服務(wù)的本土化,位于上海、北京、廣州三地的產(chǎn)品專家、售后服務(wù)團(tuán)隊(duì)以及全國(guó)各地的代理商機(jī)構(gòu)可充分保障國(guó)內(nèi)用戶的技術(shù)咨詢以及售后服務(wù)需求。

HORIBA歐洲總部

近紅外熒光光譜儀儀器簡(jiǎn)介
   
HORIBA Scientific(Jobin Yvon光譜技術(shù))----熒光光譜儀器的,提供全套穩(wěn)態(tài)、瞬態(tài)和穩(wěn)-瞬態(tài)以及各種偶聯(lián)技術(shù)的解決方案。

借助于成熟的FluoroLog®技術(shù),Nanolog®采用模塊化設(shè)計(jì),即可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)態(tài)測(cè)量,也可實(shí)現(xiàn)瞬態(tài)測(cè)量(TCSPC技術(shù)),系統(tǒng)搭配成像光譜儀,可實(shí)現(xiàn)紅外三維熒光快速測(cè)量。

NanoLog ®系列儀器專門(mén)用于納米技術(shù)和納米材料的前沿研究,NanoLog ®可以檢測(cè)到800-1700nm的近紅外范圍,可選~2μm的多通道檢測(cè)器和~3μm的單通道檢測(cè)器,同時(shí)也可實(shí)現(xiàn)紫外-可見(jiàn)區(qū)熒光光譜測(cè)量。專為單壁碳納米管(SWNTs)設(shè)計(jì)的NanoSizer®軟件,可計(jì)算熒光共振能量傳遞(FRET)和碳管內(nèi)徑分布,并且在微秒時(shí)間內(nèi)就能獲得完整的二維光譜圖,1秒內(nèi)獲得的激發(fā)-發(fā)射三維熒光光譜圖。
 
可選附件
· 超連續(xù)激光光源
· 液氮杜瓦瓶
· HPLC流通池
· 光纖導(dǎo)入支架
· 多芯光纖
· 四位電磁攪拌控溫樣品架
· 兩位電磁攪拌控溫樣品架
· 單池電磁攪拌控溫樣品架
· 固體樣品架
· 積分球
· 停留附件
· 顯微鏡耦合部件
· 多孔板閱讀器
· 鉑爾貼控溫裝置
· 外部觸發(fā)裝置
· 自動(dòng)滴定注射附件
· 1~5/50/250μL微量樣品池
· 截止濾光片
· 偏振片附件
· 低溫附件

 
近紅外熒光光譜儀技術(shù)參數(shù)
· 450W的大功率連續(xù)氙燈,涵蓋UV~NIR波長(zhǎng)范圍
· 快速獲得全波長(zhǎng)范圍激發(fā)-發(fā)射三維熒光圖
· Symphony II InGaAs陣列檢測(cè)器:800~1700nm;規(guī)格可選:256×1,512×1和1024×1,單像元25µm;噪音水平:650e-rms (液氮制冷);可選電制冷;擴(kuò)展范圍可選(1.1-2.2µm)
· iHR320發(fā)射光譜儀:焦長(zhǎng)=320mm;f/4.1;線色散=2.64nm/mm;分辨率=0.06nm;全軟件控制三光柵塔輪(所有測(cè)定在光柵刻線數(shù)1200gr/mm條件下)
· 固態(tài)近紅外檢測(cè)器,光電倍增管覆蓋UV~NIR全光譜范圍壽命測(cè)定,采用時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)技術(shù)測(cè)定熒光壽命范圍:100ps~1ms(UV~NIR);磷光壽命范圍1us~>10s(UV~NIR)

 
主要特點(diǎn)
· 一秒內(nèi)獲得激發(fā)-發(fā)射三維光譜
· 高靈敏度的近紅外InGaAs陣列檢測(cè)器
· 高光譜分辨率
· 易于實(shí)現(xiàn)SWNTs的定性和定量分析
· 可選多種檢測(cè)器適于紫外至近紅外光譜范圍的檢測(cè)需求:

      - PMT用于高靈敏度和時(shí)間分辨的測(cè)量
      - InGaAs陣列檢測(cè)器用于NIR數(shù)據(jù)的快速采集
      - CCD陣列檢測(cè)器用于UV-Vis數(shù)據(jù)的快速采集
· 同時(shí)解析量子點(diǎn)
· 易于實(shí)現(xiàn)能量轉(zhuǎn)移研究
· 模塊設(shè)計(jì)以滿足不同實(shí)驗(yàn)的需求

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