Talos F200i掃描透射電鏡FEI電鏡，賽默飛電鏡，效率更高，運用更靈活， 一更適用于材料科學。賽默飛世爾科技xin的用于高分辨率 成像和分析應用的Tabs™ F200i S/TEM。是一款專為滿足各種材料科學樣品和應用的性能和效率要 求而設計的電壓范圍為20-200 kV的場發(fā)射掃描/透射電 子顯微鏡。

其標準的X-TWIN物鏡極靴間距，在應用中具有大靈活 性-結合再現(xiàn)性能高的鏡筒設計，為高分辨率2D和3D 表征，原位動態(tài)觀測及電子衍射應用創(chuàng)造了機會。    Talos

Talos F200i掃描透射電鏡FEI電鏡，賽默飛電鏡F200i S/TEM 配備了 4kx4k Ceta 16M 相機，可在 64 位 平臺上大視場高靈敏度快速成像。

Tabs F200i S/TEM專為多用戶和多學科環(huán)境設計，并配 備了 Thermo Scientific Velox 用戶界面。Velox 在所有 賽默飛世爾科技TEM平臺上共享，所以Talos F200i S/ TEM對于新用戶來說也是理想的選擇。此外，所有TEM 曰常調(diào)整都已經(jīng)自動化，以提供*并可重復的日常設 置。自動調(diào)芾功能簡化了初學者的學習過程，減少了多 用戶環(huán)境中的緊張關系，并使有經(jīng)驗的操作員可以在較短時 間內(nèi)獲取數(shù)據(jù)信息。

，賽默飛電鏡主要優(yōu)勢

高質(zhì)置數(shù)據(jù)-快速。通過創(chuàng)新和直觀的Velox” 用戶界面，以非常簡單的方式獲得高質(zhì)量的TEM或 STEM圖像。

更適用于材料科學的靈活工具。在同一個工具上進行 廣泛的材料科學研究。添加靈活的EDS分析來揭 示化學信息。

*原位動態(tài)分析。可添加三維成像或原位分析樣品 桿。快速攝像機，智能軟件。而且，X-TWIN的大物 鏡間距在實現(xiàn)三維成像及原位數(shù)據(jù)采集的同時，對分 辨率和分析能力的影響極小。

高效率。超穩(wěn)定鏡筒設計；利用Sma「tCam實行遠程 操作；物鏡功率恒定，可實現(xiàn)快速電鏡模式和高壓切 換；并可以快速，輕松地切換多用戶環(huán)境。

可重復的可靠數(shù)據(jù)。所有日常的TEM調(diào)整，如 聚焦，中心高度，光束偏移，聚光鏡光欄對中，電子束 傾斜樞軸點以及旋轉中心調(diào)整都是自動的，以確保用 戶總是從*成像條件開始。實驗可以多次重復，因 而用戶可以更多地關注研究課題本身而不是電鏡的使 用上。

快速大視場成像。大視場的4kx4K Ceta CMOS相機 可以在整個高壓范圍內(nèi)進行高靈敏度和高速度的實時 數(shù)字變焦。..

設計緊湊₃更小的占地面積和尺寸便于在較小的空間 容納該設備，同時有助于維修和降低基礎設施和維護 成本。

，賽默飛電鏡靈活的EDS分析

可以在配置中添加側人式可伸縮能量色散X射線光譜（EDS)檢測器，以便做化學成分分析。為了進一步提高效率，特別是在多用戶，多材料環(huán)境中，恒定功率物鏡和低滯后設計使直觀的可重現(xiàn)模式和高壓切換 成為可能。Talos F200i S/TEM還提供教育性在線幫助。 只需將鼠標懸停在控制面板上，按F1鍵即可快速顯示相關 信息。

TEM and STEM MAPS軟件可以在整個樣品上進行直觀的圖像導航，并在成像平臺之間進行相關性分析。為了 在高分辨率下進行大面積成像，MAPS軟件自動獲取并縫 合圖像，以的質(zhì)量記錄整個感興趣區(qū)域。MAPS可以 跨多個工具使用，也可以在一個工具和工具中使用。它支持 來自其它顯微鏡，例如SEM，microCT或光學顯微鏡。