PL1 光致發(fā)光時間分辨共焦顯微系統(tǒng)
- 公司名稱 北京培科創(chuàng)新技術(shù)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 PL1
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2024/9/23 16:27:01
- 訪問次數(shù) 3660
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日本電子電子顯微鏡,德國Xhuber公司G670系列大型快速高分辨X射線粉末衍射儀,美國ISS公司穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀,德國Hilgers公司Fossil全自動煤巖分析系統(tǒng)
產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),石油,能源 |
目前大多數(shù)共焦顯微鏡多為生物學(xué)研究設(shè)計,很多特點和功能偏離材料科學(xué)研究。PL1光致發(fā)光時間分辨共焦顯微系統(tǒng)是專為材料光致發(fā)光測試而設(shè)計的。其功能實用,價位適中;激光光源,探測器類型以及光路設(shè)計采用光纖耦合,簡單易用,牢固可靠;標(biāo)準(zhǔn)化配置,可定制化改造;可改造顯微鏡適合深紫外激發(fā)到250nm;可以配置雙法測試,即同時配置TCSPC和FastFLIM。
PL1光致發(fā)光時間分辨共焦顯微系統(tǒng)特點:
激發(fā)波長從深紫外266nm-1000nm可選;
光譜探測范圍:300nm-1700nm;
寬范圍時間壽命測量能力:標(biāo)準(zhǔn)100ps-100ms,頻域技術(shù)可低至10ps;
熒光強度和壽命成像可同時獲得(空間分辨率可達衍射極限低至250nm);
光學(xué)切面3D掃描,三維熒光壽命成像,分辨率低至50nm;
具有多功能檢測能力,可靈活選配冷熱臺、高壓控制附件等;
集成設(shè)計,具有靈活定制擴展能力,可滿足客戶不同研究領(lǐng)域靈活配置,提升研究效率;
應(yīng)用方向:
材料科學(xué)研究
半導(dǎo)體材料表征
太陽能電池材料
晶體材料
其他光致發(fā)光材料
常規(guī)測量能力
強度和熒光壽命成像
光致發(fā)光共焦強度成像
光致發(fā)光共焦壽命成像,XYZ和T多維度,具有掃描和單點模式
FFS熒光變動光譜
熒光相關(guān)光譜(FCS)
光子計數(shù)直方圖(PCH)
熒光壽命相關(guān)光譜(FLCS)
單分子成像
Burst分析
單分子FRET熒光共振能量轉(zhuǎn)移分析
應(yīng)用案例:
量子點:
上圖相量圖可獨立區(qū)分基體涂層量子點熒光壽命種類,直接從原始數(shù)據(jù)獲得。激發(fā)波長470nm,發(fā)射波長499-632nm(熒光),475/35nm(反射),掃描區(qū)域17.5μm×17.5μm。(Courtesy of Wenjie Liu and Dr.Yaowu Hu;Purdue University;West Lafayette,IN;USA)
鈣鈦礦表征:
上圖是鈣鈦礦高空間分辨率共焦熒光壽命成像及光致發(fā)光(熒光)強度。ISS VistaVisiontion提供最小化數(shù)據(jù)擬合算法和相矢量圖壽命分析;如,使用多圖相圖常規(guī)分析方法,不同鈣鈦礦樣品的熒光壽命可以通過鑒定原始數(shù)據(jù)相矢量圖立即獲?。o需數(shù)據(jù)擬合),使得熒光壽命分析更簡便和準(zhǔn)確。激發(fā)波長488nm;發(fā)射光譜通過635nm長通濾波器;掃描區(qū)域:20μm×20μm。
納米粒子熒光上轉(zhuǎn)換:
上圖是上轉(zhuǎn)換納米粒子共焦壽命成像,包含高空間分辨率光致發(fā)光強度和壽命。激發(fā)波長980nm,發(fā)射波長509-552nm。掃描區(qū)域20μm×20μm。