FEI “Quanta系列”環(huán)境掃描電子顯微鏡”
- 公司名稱 廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/7/18 11:44:29
- 訪問次數(shù) 3222
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接觸角測(cè)量?jī)x、在線測(cè)厚儀、光學(xué)膜厚儀、紅外光譜儀、拉曼成像光譜儀、拉曼電鏡、低溫恒溫器、掃描探針顯微鏡/原子力、納米壓痕劃痕儀、橢偏儀、熱分析、差示掃描熱儀
FEI “Quanta系列”環(huán)境掃描電子顯微鏡”
儀器簡(jiǎn)介:
Quanta x50系列掃描電子顯微鏡是FEI公司一代的、真正的多用途掃描電鏡,是著名的Quanta產(chǎn)品家族的第三代產(chǎn)品。
FEI “Quanta系列”環(huán)境掃描電子顯微鏡”
主要特點(diǎn):
1.FEI ESEM(環(huán)境掃描電鏡)技術(shù), 可在高真空、低真空和環(huán)境真空條件下對(duì)各種樣品進(jìn)行觀察和分析。
2.所有真空條件下的二次電子、背散射電子觀察和微觀分析。
3.*進(jìn)的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)平臺(tái),全數(shù)字化系統(tǒng)。
4.可同時(shí)安裝能譜儀、波譜儀和EBSP系統(tǒng)。
5.可安裝低溫冷臺(tái)、加熱臺(tái)、拉伸臺(tái)等進(jìn)行樣品的原位、動(dòng)態(tài)觀察和分析。
技術(shù)參數(shù):
1.分辨率:
二次電子:
高真空模式 3.0nm @ 30kV, 8nm @ 3kV
高真空減速模式 7nm @ 3kV (可選項(xiàng))
低真空模式 3.0nm @ 30kV, 10nm @ 3kV
環(huán)境真空模式 3.0nm @ 30kV
背散射電子 4.0nm @ 30kV
2.樣品室壓力最高達(dá)2600Pa
3.加速電壓200V ~ 30kV,連續(xù)調(diào)節(jié)
4.樣品臺(tái)移動(dòng)范圍
Quanta 250: X=Y=50mm
Quanta 450: X=Y=100mm
Quanta 650: X=Y=150mm