實現(xiàn)了世界的高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率
JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，高加速電壓可達(dá)300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現(xiàn)了世界的高的STEM-HAADF像分辨率。
STEM-HAADF像的保證分辨率達(dá)到了*的58pm
采用JEOL自主研發(fā)的球差校正器，掃描透射像（STEM像)的保證分辨率可達(dá)58pm（300kV,超高分辨率極靴、使用STEM球差校正器時）。
ETA校正器 JEOL自主研發(fā)的12極球差校正器 ※選配件
ETA校正器（Expanding trajectory aberration corrector）是JEOL研發(fā)的擴(kuò)展軌道型12極球差校正器?？梢栽谟脩衄F(xiàn)場加裝STEM球差校正器及TEM球差校正器。
強(qiáng)大的冷場發(fā)射電子槍HyperCF300
標(biāo)配了全新設(shè)計的冷場發(fā)射電子槍,低能散、高亮度電子束能提供高分辨率觀察和分析。
兩種物鏡極靴
為了支持用戶廣泛的需求，研發(fā)了兩種各具特點的物鏡極靴。
豐富的選購件
能安裝超大立體角EDS（能譜儀）、EELS（電子能量損失譜儀）、背散射電子檢測器及四種STEM觀察檢測器。
大范圍的加速電壓設(shè)置
標(biāo)配300kV和80kV下的球差校正數(shù)據(jù),可選的加速電壓范圍從40KV?300kV，使用范圍極廣。
新開發(fā)的真空系統(tǒng)
新的排氣系統(tǒng)達(dá)到了*的真空度，在原子尺度的圖像觀察和分析中，大限度地減輕了對樣品的污染和損傷。
高穩(wěn)定的鏡筒和樣品臺
整體穩(wěn)定性高、直徑330mm的鏡筒增加了機(jī)械剛度， 在JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡高度穩(wěn)定的技術(shù)基礎(chǔ)之上，把電氣穩(wěn)定性和對環(huán)境的抗*力提高到新高度。