FERA3 GM TESCAN 聚焦離子束-掃描電鏡
- 公司名稱 北京亞科晨旭科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 FERA3 GM
- 產(chǎn)地 捷克
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/9/25 11:58:12
- 訪問次數(shù) 1085
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TESCAN 聚焦離子束-掃描電鏡是一款由計算機(jī)*控制的Xe等離子聚焦離子束(i-FIB)場發(fā)射掃描電子顯微鏡,可選配氣體注入系統(tǒng) (GIS),可在高真空和低真空模式下工作,其具有突出的光學(xué)性能、清晰的數(shù)字化圖像、成熟和用戶界面友好的SEM/FIB/GIS操作軟件等特點。基于Windows™平臺的操作軟件提供了簡單的電鏡操作和圖像采集,可以保存標(biāo)準(zhǔn)文件格式的圖片,可以對圖像進(jìn)行管理、處理和測量,實現(xiàn)了電鏡的自動設(shè)置和許多其它自動操作。
TESCAN 聚焦離子束-掃描電鏡概述
軟件標(biāo)配:
測量
圖象處理
3維掃描
硬度測量
多圖像校準(zhǔn)
對象區(qū)域
自動關(guān)機(jī)時間
公差
編程軟件
定位
投影面積
EasySEMTM
選配:根據(jù)實際配置和需求
技術(shù)規(guī)格
配件二次電子探頭
背散射電子探頭
In-Beam SE
In-Beam BSE
探針電流測量
壓差式防碰撞報警裝置
可觀察樣品室內(nèi)部的紅外線攝像頭
TOP-SIMS
二次離子探頭
等,各種配件可供選擇
圖片
其他
分析潛力
高亮度肖特基發(fā)射可獲得高分辨率、高電流和低噪聲的圖像
選配的In-Beam二次電子探頭可獲取超高分辨率圖像
三透鏡大視野觀察(Wide Field Optics™)設(shè)計提供了多種工作模式和顯示模式,體現(xiàn)了TESCAN*可優(yōu)化電子束光闌的中間鏡設(shè)計
結(jié)合了完善的電子光學(xué)設(shè)計軟件的實時電子束追蹤(In-Flight Beam Tracing™)可模擬和進(jìn)行束斑優(yōu)化
成像速度快
低電壓下的電子束減速模式(Beam Deceleration Technology – BDT)可獲取高分辨率圖像 (選配)
In-Beam背散射電子探頭,用于在小工作距離下得BSE圖像(選配),甚至適合鐵磁性樣品
全計算機(jī)化優(yōu)中心電動載臺設(shè)計優(yōu)化了樣品操控
*的幾何設(shè)計更適合安裝能譜儀(EDX)、波譜儀(WDX)、背散射電子衍射儀(EBSD)
由于使用了強(qiáng)力的渦淪分子泵和干式前置真空泵, 因而可以很快達(dá)到電鏡的工作真空,電子槍的真空由離子泵維持
自動的電子光路設(shè)置和合軸
網(wǎng)絡(luò)操作和內(nèi)置的遠(yuǎn)程控制/診斷軟件
3維電子束技術(shù)提供實時立體圖像
在低真空模式下樣品室真空可達(dá)到500Pa 用于觀測不導(dǎo)電樣品
*的離子差異泵(2個離子泵)使得離子散射效應(yīng)超低
聚焦離子束鏡筒內(nèi)有馬達(dá)驅(qū)動高重復(fù)性光闌轉(zhuǎn)換器
聚焦離子束的標(biāo)配包括了電子束遮沒裝置和法拉第筒
高束流下超高的銑削速度和的性能
FIB切割、信號采集、3維重構(gòu)(斷層攝影術(shù)),3D EBSD、3D EBIC與集成3維可視化
成熟的SEM/FIB/GIS操作軟件,圖像采集、存檔、處理和分析功能