德國zeiss工業(yè)ct 無損掃描品牌采用納米CT技術研究了硅碳核桃結構。使用閾值分割方法，摳選得到Si材料。使用Avizo內(nèi)嵌的連續(xù)平滑算法，得到美觀的三維渲染效果圖。使用Extract Subvolume功能，得到內(nèi)部Si的直觀分布圖(圖4)。其中藍色部分為材料Si。

德國zeiss工業(yè)ct 無損掃描品牌可見硅是顆粒中以散亂的狀態(tài)分布在顆粒的心部以及外表面，且以外部包覆為主。通過Material Statistices進行統(tǒng)計計算，得到Si占單個顆粒的體積百分比為30%。

　　德國zeiss工業(yè)ct 無損掃描品牌為手工分割出的Si 與顆粒渲染圖，(b)為平滑處理后的Si 與顆粒渲染圖，(c)為從顆粒中截取的某一子體積的 Si 與顆粒渲染圖，其中藍色部分為材料Si。

　　德國zeiss工業(yè)ct 無損掃描品牌技術研究含硅合金負極的軟包電池容量衰減機理

　　Berckmans借助X射線CT技術，研究了含硅合金負極的軟包電池容量快速衰減的原因，發(fā)現(xiàn)電極層之間出現(xiàn)明顯的機械變形。推測主要是因為在電化學循環(huán)過程中，F(xiàn)EC分解產(chǎn)生了較多的CO2氣體。

FEC與電解液反應，生成LiF，有助于形成更穩(wěn)定的SEI膜，能增加循環(huán)穩(wěn)定性，但是同時會產(chǎn)生CO2氣體。CO2氣體會阻礙鋰離子的傳輸，造成活性表面積損失，電池容量降低。產(chǎn)氣量過大，使用FEC的負效應超過正效應。

　　德國zeiss工業(yè)ct 無損掃描品牌隨后作者試圖采用外加壓力的方式降低FEC的分解速率，發(fā)現(xiàn)放電容量增加19%。此外，測試結束后沒有看到電池出現(xiàn)鼓脹現(xiàn)象，表明施加外壓能降低FEC的消耗速率。

德國zeiss工業(yè)ct 無損掃描品牌因此，在設計含硅材料的電池時，外壓是需要考慮的關鍵參數(shù)之一。