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臺式PID(Potential Induced Degradation)

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c-Si太陽能電池

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束蘊儀器(上海)有限公司自成立以來,憑借與德國布魯克(BRUKER)、衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)、德國Freiberg等實驗室分析儀器品牌的戰(zhàn)略合作,迅速成為業(yè)界儀器供應商。

我們擁有一支積極樂觀,正直誠信的年輕團隊,我們熱忱的信仰科學,相信科學技術能為我們的客戶帶來高品質(zhì)的生活,為社會的進步起到積極的促進作用。

束蘊儀器為各類客戶提供優(yōu)質(zhì)的實驗室和工業(yè)檢測儀器及過程控制設備,專業(yè)的應用支持及完善的售后服務,在中國大陸的諸多領域擁有大量用戶,如高校、科研院所、航空航天,政府組織、檢驗機構、及工業(yè)企業(yè)。產(chǎn)品覆蓋了醫(yī)藥、生物、材料、考古、電子、食品等各個行業(yè)。

公司的宗旨:為客戶量身打造合適的綜合解決方案、技術支持和現(xiàn)場服務,優(yōu)質(zhì)的客戶培訓,快速及時的售后服務。

 

束蘊儀器,讓世界更清晰!

主營儀器設備:

--高分辨X射線顯微CT、多量程X射線納米CT、X射線衍射儀、X射線熒光光譜儀、電子順磁共振波譜儀          (ESR/EPR)、臺式核磁共振波譜儀 TD-NMR、光學輪廓儀等 -- 德國布魯克Bruker 授權代理商

--PDF衍射數(shù)據(jù)庫、JADE軟件--衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)授權代理商

--晶圓片壽命檢測儀、在線晶圓片/晶錠點掃或面掃檢測、晶圓片在線面掃檢測儀、臺式PID潛在誘導退化測試儀、釋光測定儀等--德國Freiberg Instruments授權代理商

--BPCL化學發(fā)光儀--微光科技華東區(qū)總代理

 


 單位名稱:束蘊儀器(上海)有限公司

詳細地址:上海市松江區(qū)千帆路288弄G60科創(chuàng)云廊3號樓602室

 

 

 

 

 

MicroCT,顯微CT,微焦點CT,骨骼成像,顯微CT材料學檢測,微納顯微CT,X射線斷層掃描,TOC,元素檢測

應用領域 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,食品,化工

臺式PID(Potential Induced Degradation)潛在誘導退化測試儀,用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測。

標準:IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016

可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度

    易ID和抗PID的太陽能電池          重現(xiàn)性

臺式PID(Potential Induced Degradation)潛在誘導退化測試儀,用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測。

標準:IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016

可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度

臺式PID(Potential Induced Degradation)潛在誘導退化測試儀,用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測。

標準:IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016

可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度

臺式PID(Potential Induced Degradation)潛在誘導退化測試儀,用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測。

標準:IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016

可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度

臺式PID(Potential Induced Degradation)潛在誘導退化測試儀,用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測。

標準:IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016

可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度

臺式PID(Potential Induced Degradation)潛在誘導退化測試儀,用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測。

標準:IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016

可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度

臺式PID(Potential Induced Degradation)潛在誘導退化測試儀,用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測。

標準:IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016

可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度

臺式PID(Potential Induced Degradation)潛在誘導退化測試儀,用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測。

標準:IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016

可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度

 



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