聚焦離子束顯微鏡 Helios 5 DualBeam 重新定義了高分辨率成像的標(biāo)準(zhǔn)：高材料對(duì)比度，快、簡(jiǎn)單、準(zhǔn)確的高質(zhì)量樣品制備，用于 S/TEM 成像和原子探針斷層掃描（APT）以及高質(zhì)量的亞表面和 3D 表征。

聚焦離子束顯微鏡特點(diǎn)：

更易于使用：

Helios 5 是所有體驗(yàn)級(jí)別用戶容易使用的 DualBeam。操作員培訓(xùn)可以從幾個(gè)月縮短到幾天，系統(tǒng)設(shè)計(jì)可幫助所有操作員在各種高級(jí)應(yīng)用程序上實(shí)現(xiàn)一致、可重復(fù)的結(jié)果。

提高了生產(chǎn)率：

Helios 5 和 AutoTEM 5 軟件的先進(jìn)自動(dòng)化功能，增強(qiáng)的穩(wěn)健性和穩(wěn)定性允許無(wú)人值守甚至夜間操作，顯著提高樣品制備通量。

改善時(shí)間和結(jié)果：
Helios 5 DualBeam 現(xiàn)在包括 FLASH，這是一種調(diào)整圖像的新概念。對(duì)于傳統(tǒng)的顯微鏡，每次操作員需要獲取圖像時(shí)，必須通過(guò)迭代對(duì)中仔細(xì)調(diào)整顯微鏡。使用 Helios 5 DualBeam，屏幕上的簡(jiǎn)單手勢(shì)將激活 FLASH，將自動(dòng)調(diào)整這些參數(shù)。自動(dòng)調(diào)整可以顯著提高通量、數(shù)據(jù)質(zhì)量并簡(jiǎn)化高質(zhì)量圖像的采集。