ELSZ-2000 Zeta電位測(cè)試儀
- 公司名稱(chēng) 大塚電子(蘇州)有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大冢
- 型號(hào) ELSZ-2000
- 產(chǎn)地
- 廠(chǎng)商性質(zhì) 生產(chǎn)廠(chǎng)家
- 更新時(shí)間 2020/6/12 15:57:51
- 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù) 1670
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zeta電位?粒徑?分子量測(cè)量系統(tǒng),晶圓在線(xiàn)測(cè)厚系統(tǒng),線(xiàn)掃描膜厚儀,顯微分光膜厚儀,線(xiàn)掃描膜厚儀,分光干涉式晶圓膜厚儀,相位差膜?光學(xué)材料檢測(cè)設(shè)備,非接觸光學(xué)膜厚儀,小角激光散射儀,多檢體納米粒徑量測(cè)系統(tǒng),量子效率測(cè)量系統(tǒng)
產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 30萬(wàn)-50萬(wàn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),制藥 |
Zeta電位測(cè)試儀可測(cè)量低濃度溶液~高濃度溶液的ZETA電位、粒徑及分子量。
粒徑測(cè)量范圍(0.6nm~10μm),濃度范圍(0.00001%~40%)。實(shí)測(cè)電氣滲透流,高精度的ZETA電位測(cè)量,小容量是130μL~的一次性樣品池。另外在0~90℃的大的溫度范圍內(nèi),測(cè)量自動(dòng)溫度的梯度空間,分析變性、相轉(zhuǎn)移溫度。
產(chǎn)品特點(diǎn):
- 使用了新型高感度APD,感度提升及縮短測(cè)量時(shí)間
- 通過(guò)測(cè)量自動(dòng)溫度梯度空間,可分析出變性、相轉(zhuǎn)移溫度
- 可測(cè)量0~90℃大范圍內(nèi)的溫度
- 追加了大范圍的分子量測(cè)量及解析功能
- 懸濁類(lèi)高濃度樣品的粒徑、ZETA電位的測(cè)量
- 實(shí)測(cè)cell內(nèi)的電氣滲透流,解析plot,提供高精度的ZETA 電位測(cè)量結(jié)果
- 高鹽濃度溶液的ZETA電位測(cè)量
- 小面積樣品的平板ZETA電位測(cè)量
Zeta電位測(cè)試儀適用于界面化學(xué)、無(wú)機(jī)物、半導(dǎo)體、高分子、生物、藥學(xué)、醫(yī)學(xué)領(lǐng)域中,除了微粒子外,膜及平板狀樣品的表面科學(xué)的基礎(chǔ)研究、應(yīng)用研究。
1)新功能性材料領(lǐng)域
燃料電池相關(guān)(碳納米軟管、富勒烯、功能性膜、觸媒、納米金屬)
生物納米相關(guān)(納米膠囊、人造分子、DDS、生物納米粒子)、納米氣泡等
2)陶瓷、色材工業(yè)領(lǐng)域
陶瓷(二氧化硅、氧化鋁、氧化鈦等)
無(wú)極膠體溶液的表面改質(zhì)、分散、凝集控制
顏料(炭黑、有機(jī)顏料)的分散、凝集控制
懸濁狀樣品
3)半導(dǎo)體領(lǐng)域
查明附著在硅體晶圓的異物的結(jié)構(gòu)
研磨剤或添加剤和晶圓表面的相互作用的研究
CMP懸濁液
4)高分子、化學(xué)工業(yè)領(lǐng)域
Emulsion(塗料、膠水)的分散、凝集控制、乳膠的表面改質(zhì)(醫(yī)藥 用、工業(yè) 用)
高分子電解質(zhì)(聚乙烯磺酸鹽、聚碳酸等)功能性的研究、功能性納米粒子
紙漿的制紙工程控制及紙漿添加材料的研究
5)醫(yī)藥 品、食品工業(yè) 領(lǐng)域
Emulsion(食品、香料、醫(yī)療、化妝品)的分散、凝集控制、蛋白質(zhì)的功能性
脂質(zhì)體、囊泡的分散、凝集控制、界面活性剤(膠粒)的功能性
設(shè)備參數(shù):
測(cè)量原理 | 激光多普勒(Laser Doppler) |
光源 | 高功率、高穩(wěn)定性半導(dǎo)體鐳射 |
感光元件 | 高感度APD |
樣品容器 | 標(biāo)準(zhǔn)樣品容器、微量(130μl~)可拋式樣品容器或高濃度樣品容器 |
溫度范圍 | 0~90℃(具備梯度功能) |
電源規(guī)格 | 100V±10% 250VA,50/60Hz |
尺寸 | 380(W)×600(D)×210(H)mm |
重量 | 約22kg |