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掃描電鏡/FIB原位納米壓痕儀Hysitron PI 88

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 冠乾科技(上海)有限公司
  • 品牌 Bruker/布魯克
  • 型號(hào)
  • 產(chǎn)地 美國
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間 2023/8/18 13:44:44
  • 訪問次數(shù) 1281
產(chǎn)品標(biāo)簽

原位納米壓痕壓痕儀納米壓痕

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冠乾科技Grant Technology 有限公司創(chuàng)立于中國上海。 公司為用戶提供先進(jìn)可靠的設(shè)備及、

儀器技術(shù),為客戶把握工藝過程,得到優(yōu)質(zhì)的結(jié)果而服務(wù)。
Grant是“授予”的意思,希望公司能夠成為一個(gè)平臺(tái),以用戶能夠得到上更新更快的技術(shù)資訊,技術(shù)方案為企業(yè)目標(biāo)。

冠乾科技追求品質(zhì)產(chǎn)品、專業(yè)的應(yīng)用和完善的售后服務(wù),我們是您可以信賴的合作伙伴。

工藝設(shè)備:真空鍍膜機(jī);離子束刻蝕機(jī),ICP刻蝕機(jī),等

產(chǎn)品線豐富,元素分析:原子吸收,氣相色譜,液相色譜,氣質(zhì)聯(lián)用,紫外分光光度計(jì)等; 熱分析:材料表面分析:原子力顯微鏡,光學(xué)輪廓儀,摩擦磨損等;  通用分析:掃描電鏡,

實(shí)驗(yàn)室儀器
原子吸收光譜儀
近紅外光譜儀
紫外分光光度計(jì)
電化學(xué)工作站
紅外光譜儀
鍍層測厚儀
數(shù)字顯微鏡
影像測量儀
Wafer 粗糙度檢測
3D 輪廓儀
超景深顯微鏡
TTV 測試
掃描探針顯微鏡
臺(tái)式掃描電鏡

其他儀器:
四探針測試
離子減薄機(jī)

 

原子力顯微鏡,摩擦磨損試驗(yàn)機(jī),超景深顯微鏡,鍍膜機(jī)

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 化工,電子,電氣

掃描電鏡/FIB原位納米壓痕儀Hysitron PI 88:布魯克Hysitron PI 88

PI 88是布魯克公司生產(chǎn)的新一代原位納米力學(xué)測試系統(tǒng),其大特點(diǎn)是系統(tǒng)設(shè)計(jì)高度模塊化,后期可在已有系統(tǒng)上自行配置并拓展其他功能。

真正實(shí)現(xiàn)直接觀察條件下的定量納米力學(xué)表征;高級(jí)的XYZ方向樣品定位,配合可選傾斜和旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái);模塊化設(shè)計(jì),可搭載全套測試技術(shù),包括800℃熱臺(tái),劃痕,擴(kuò)展量程的傳感器,電學(xué)偏壓等。

掃描電鏡/FIB原位納米壓痕儀Hysitron PI 88特點(diǎn):

輕松搭載定量納米力學(xué)測試

深入了解納米尺度下的力學(xué)性能

在您實(shí)驗(yàn)室已有的熟知儀器上獲得力學(xué)數(shù)據(jù),在您電鏡上擴(kuò)展如下功能,包括:

1.納米壓痕微懸臂彎曲

2.微柱或微顆粒壓縮

3.拉伸測試

4.納米劃痕

整個(gè)實(shí)驗(yàn)過程中始終如一的穩(wěn)定性

布魯克的原位解決方案專為電鏡環(huán)境下的出眾性能而設(shè)計(jì)。真空相容性/檢測器定位和機(jī)架柔度等相關(guān)因素均被嚴(yán)格考慮。我們專屬的傳感器技術(shù)確保實(shí)驗(yàn)過程中精細(xì)納米力學(xué)測量所需的靈敏度和穩(wěn)定性,而數(shù)位控制器提供了超快的反饋和數(shù)據(jù)采集率。因而應(yīng)力誘發(fā)變形過程之前、之中、之后都得以高速捕獲加以分析。

穩(wěn)定性

Hysitron PI88 配套一套真空適用的布魯克納米尺度傳感器和導(dǎo)電金剛石壓頭。通過傳感器中的靜電力施以載荷,電容記錄位移。低電流設(shè)計(jì)帶來的超低溫漂保證了靈敏度。與傳感器配合的是一套在XYZ三軸方向均>8mm的高級(jí)樣品定位載臺(tái),可實(shí)現(xiàn)在較大樣品上超好的橫向精度以及線性和靈活定位。在這一簡潔平臺(tái)機(jī)械繼承的載臺(tái)和傳感器為使用者提供了納米力學(xué)測試所需的穩(wěn)定、剛性的基礎(chǔ)。

該系統(tǒng)通過視頻接口將材料的力學(xué)數(shù)據(jù)(載荷-位移曲線)與相應(yīng)SEM視頻之間實(shí)現(xiàn)時(shí)間同步,允許研究者在整個(gè)測試過程中定位壓頭并對(duì)變形過程成像。解決了傳統(tǒng)納米壓痕方法,只能通過光學(xué)顯微鏡或原位掃描成像觀察壓痕前后的形貌變化,因無法監(jiān)測中間過程,而終對(duì)載荷-位移曲線上的一些突變無法給出解釋甚至錯(cuò)誤解釋的問題。

PI 88安裝于SEM,可以施加載荷,檢測位移,在電鏡下進(jìn)行壓痕、壓縮、彎曲、劃痕、拉伸和疲勞等力學(xué)性能測試;此外,通過升級(jí)電學(xué)、加熱模塊,還可研究材料在力、電、熱等多場耦合條件下結(jié)構(gòu)與性能的關(guān)系。



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