qnix4500鍍鋅層測厚儀/0-3000μm
- 公司名稱 篤摯儀器(上海)有限公司
- 品牌 Qnix/德國尼克斯
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地 德國
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2020/10/9 13:08:23
- 訪問次數(shù) 995
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車 |
qnix4500鍍鋅層測厚儀/0-3000μm
德國尼克斯 QNIX 涂層測厚儀特點(diǎn):
零位穩(wěn)定:所有涂層測厚儀測量前都要求校準(zhǔn)零位,可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是保證測量準(zhǔn)確的前提。一臺(tái)好的測厚儀校零后,可以長時(shí)間保持零位不漂移,確保準(zhǔn)確測量。
無需校準(zhǔn):多數(shù)涂層測厚儀除了校零外,還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校。測量某一范圍厚度,要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。不僅操作煩瑣,而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效,增大系統(tǒng)誤差。尼克斯涂層測厚儀可以滿足全量程范圍內(nèi)數(shù)值準(zhǔn)確
溫度補(bǔ)償:涂覆層厚度的測量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測量會(huì)得出很大的誤差。所以好的測厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù),以保證不同溫度下的測量精度。
紅寶石探頭:探頭接觸點(diǎn)的耐磨性直接影響測量的精度。普通金屬接觸探頭,其表面磨損后會(huì)帶來很大的誤差。
*的直流采樣技術(shù):使得測量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有*的*和提高。
單探頭量程大:0-5mm
德國尼克斯QNix4200/4500涂鍍層進(jìn)口測厚儀這兩種型號(hào)一體化/分體化設(shè)計(jì),只需調(diào)零,無需校準(zhǔn),使用非常簡單。其中QNix4200為磁性測厚儀,可以用來測量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層;QNix4500為磁性和渦流兩用測厚儀,不僅可以用來測量鋼鐵等磁性基體,還可以用來測量鋁、銅、不銹鋼等非磁性金屬表面的涂層、氧化膜、磷化膜等覆層。這兩個(gè)型號(hào)操作簡單,攜帶方便,精度高,為廣大用戶所喜愛德國尼克斯QNix4200/4500涂鍍層進(jìn)口測厚儀。
在傳統(tǒng)QNix® 4500基礎(chǔ)上,為了滿足客戶不同的需要,特推出QNix® 4500(分體式)機(jī),探頭和主機(jī)之間通過一根探頭線連接起來,可以滿足特定測量環(huán)境(比如狹小空間)的需要,測量更方便,使用更人性化,性價(jià)比更高
為了迎合用戶需要,還推出QNix® 4500(大量程)機(jī),使在鐵基測量模式下量程可擴(kuò)大到5mm。
產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn):
• 只需調(diào)零,無需校準(zhǔn)
• 體積小巧,操作方便
• 一機(jī)雙用,自動(dòng)識(shí)別基體
• 精度高
• 價(jià)格便宜
QNix® 4500(分體式)介紹
1 簡單快速測量
2 不需要校準(zhǔn)
3 自動(dòng)開關(guān)機(jī)
4 大量程FE:0-5000um NFE:0-3000um
5 雙用探頭,性價(jià)比高
6 霍爾傳感器讓測量更穩(wěn)定
7 測量時(shí)聲音同步
8 紅寶石耐磨頭,壽命長
9 背光LED顯示,讀數(shù)更加清晰
10自動(dòng)識(shí)別測量基體
11 分體式探頭,滿足不同的測量環(huán)境
選型指南
型號(hào) | 型式 | 量程 | 基體 |
QNix4200 | 一體 | Fe:0-3000μm | Fe |
QNix4200P | 分體 | Fe:0-3000μm | Fe |
QNix4200/5 | 一體 | Fe:0-5000μm | Fe |
QNix4200P5 | 分體 | Fe:0-5000μm | Fe |
QNix4500 | 一體 | Fe/NFe:0-3000μm | Fe/NFe 雙用 |
QNix4500P | 分體 | Fe/NFe:0-3000μm | Fe/NFe 雙用 |
QNix4500/5 | 一體 | Fe:0-5000μm | Fe/NFe 雙用 |
QNix4500P5 | 分體 | Fe:0-5000μm | Fe/NFe 雙用 |
技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品型號(hào) | QNix4200 | QNix4500 | |
適合基體 | 磁性基體 | 磁性基體/非磁性基體 | |
探頭類型 | Fe | Fe/ NFe | |
測量范圍 | Fe:0-3000um | Fe: 0-3000um或0-5000um | |
顯示范圍 | 0-99.9μm:0.1μm | ||
精度 | ±(2+3%)μm≤2000μm | ||
*小接觸面 | Fe:10×10mm²,NFe:6×6mm² | ||
*小曲率半徑 | 凸半徑:5mm,凹半徑:25mm | ||
*小基體厚度 | Fe:0.2mm/NFe:0.05mm | ||
溫度補(bǔ)償范圍 | 0-50℃ | ||
測量溫度范圍 | -10℃-60℃ | ||
分體型連接線長度 | 1m | ||
顯示 | LCD液晶(帶背光) | ||
探頭 | 紅寶石固定式 | ||
電源 | 2×1.5V干電池 | ||
尺寸 | 100×60×27mm | ||
重量 | 一體型:105g,分體型:147g | ||
標(biāo)準(zhǔn)配置 | 主機(jī)、探頭、基體、包裝盒、隨機(jī)資料 | ||
可選配置 | 標(biāo)準(zhǔn)膜厚片、探頭導(dǎo)線 |