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日立分析儀器(上海)有限公司

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OE750 日本日立 光譜儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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“以規(guī)矩為方圓則成,以尺寸量長(zhǎng)短則得”。——管子

蘇州市方圓計(jì)量?jī)x器有限公司(簡(jiǎn)稱(chēng)“方圓量?jī)x”),成立于二零零五年,坐落于中新合作蘇州新加坡工業(yè)園區(qū),毗鄰美麗的陽(yáng)澄湖,公司致力于推廣和銷(xiāo)售各類(lèi)計(jì)量檢測(cè)儀器和實(shí)驗(yàn)室設(shè)備,為航空航天、軌道交通、汽車(chē)、電子、核電、光伏、科研、模具、裝備制造及3C等產(chǎn)業(yè)提供一站式測(cè)量解決方案。

公司主要銷(xiāo)售的產(chǎn)品如下:

各類(lèi)檢測(cè)儀器和實(shí)驗(yàn)設(shè)備: 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī),影像測(cè)量?jī)x,三維光學(xué)掃描儀,光學(xué)軸類(lèi)測(cè)量?jī)x、光學(xué)投影儀、影像測(cè)量?jī)x、工具顯微鏡,粗糙度儀、輪廓儀,圓度圓柱度儀,數(shù)顯測(cè)高儀,萬(wàn)能測(cè)長(zhǎng)儀,螺紋測(cè)量?jī)x,激光跟蹤儀,激光干涉儀,氣動(dòng)量?jī)x工作站,齒輪測(cè)量中心,齒輪嚙合儀,通用量具、各種硬度試驗(yàn)機(jī)、精密烘箱、電子天平、掃描電子顯微鏡、金相顯微鏡、光譜分析儀、X射線熒光光譜儀(XRF)、激光粒度儀,彈簧試驗(yàn)機(jī),萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)、金相設(shè)備等。

主要代理品牌有:日本東京精密ACCRTECH、日本日立儀器、日本大阪精密OSAKA、荷蘭軼諾INNOVATEST、美國(guó)施泰力Starrett、美國(guó)愛(ài)佩儀API、意大利馬波斯Marposs、瑞士TRIMOS、日本三豐Mitutoyo、日本親和SHINWA、德國(guó)徠卡Leica、德國(guó)菲希爾Fischer、英國(guó)艾德姆ADAM、日本愛(ài)斯佩克ESPEC、、日本理學(xué)Rigaku、日本堀場(chǎng)Horiba、深圳中圖等。

本公司自2005年成立以來(lái),一直遵循:服務(wù)創(chuàng)造價(jià)值的經(jīng)營(yíng)理念。公司設(shè)有大型儀器展廳,可以為客戶提供測(cè)件,演示,培訓(xùn),維修,校準(zhǔn)等一系列服務(wù)。公司在堅(jiān)持為客戶提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品的同時(shí),更加注重產(chǎn)品的售前售中售后服務(wù),現(xiàn)已培育出一支高素質(zhì)的技術(shù)服務(wù)團(tuán)隊(duì),為公司銷(xiāo)售的產(chǎn)品提供了良好的技術(shù)服務(wù)保障,讓客戶沒(méi)有后顧之憂。

 

激光跟蹤儀,三坐標(biāo)測(cè)量機(jī),影像測(cè)量?jī)x,投影儀,工具顯微鏡,粗糙度儀、輪廓儀,圓度圓柱度儀,齒輪嚙合儀,齒輪檢測(cè)中心,測(cè)高儀,測(cè)長(zhǎng)儀,激光測(cè)徑儀,氣動(dòng)量?jī)x,通用量具,硬度計(jì),光譜分析儀,萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī),金相設(shè)備,內(nèi)窺鏡,無(wú)損檢測(cè),環(huán)境試驗(yàn),表面涂裝檢測(cè)等精密儀器

應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,電子,交通

日本日立 光譜儀

由于行業(yè)法規(guī)日益嚴(yán)格,供應(yīng)鏈變得復(fù)雜以及更多地使 用廢料作為基礎(chǔ)材料,因此鑄造廠和金屬制造商必須將 雜質(zhì)和痕量元素控制在*低ppm范圍內(nèi)。在過(guò)去,這一 級(jí)別的OES對(duì)許多企業(yè)而言是遙不可及。日立分析儀器 推出的新型OE750可改變這一現(xiàn)狀。

日立的這款全新OES可用于分析所有主要合金元素,并 識(shí)別金屬中含量極低的雜質(zhì)、痕量元素和關(guān)心元素,如 鋼中的氮。 OE750的測(cè)量速度快、可靠性高且運(yùn)營(yíng)成本 低,可進(jìn)行高性?xún)r(jià)比的日常分析和全面質(zhì)量控制,其性 能可與更大、更貴的光譜儀媲美。

德國(guó)制造的OE750的設(shè)計(jì)離不開(kāi)日立45余年的金屬行業(yè) 經(jīng)驗(yàn)的支撐。從測(cè)量鋼鐵中的氮到鋁中的磷 ,這款分析 儀可提供滿足當(dāng)今嚴(yán)格規(guī)范所需的全面金屬分析。 日立分析儀器的OE750是可進(jìn)行快速、全面的金屬質(zhì)量 分析的經(jīng)濟(jì)適用儀器,可滿足一切需求。

日本日立 光譜儀

我們?nèi)绾翁岣?性?xún)r(jià)比

這*取決于技術(shù)。

OE750采用*先進(jìn)的半導(dǎo)體探測(cè)器和新型光學(xué)概念(四項(xiàng)*利 正在申請(qǐng)中)。這使得日立的OES光譜儀在同類(lèi)產(chǎn)品中具有* 高光學(xué)分辨率,因此您不必在高性能和低成本之間作出選擇。

動(dòng)態(tài)CMOS檢測(cè)器的創(chuàng)新使用以及將光學(xué)系統(tǒng)直接接合至火花 臺(tái)可確保*佳照度以及119nm至766nm的波長(zhǎng)范圍。這包括 從氫到鈾的所有元素,用于全元素分析*。這種性能通常只適 用于*端質(zhì)量控制儀器,但OE750可通過(guò)創(chuàng)新、低氬和低功耗 降低成本。

OE750在元素選擇上具有大大的靈活性,能使操作適合未來(lái)需 要。

*大可靠性和*短停 機(jī)時(shí)間

| OE750旨在保持運(yùn)行不間斷。其 維護(hù)時(shí)間被縮至??;例如,只 需每隔幾千次測(cè)量*清理一次火花 臺(tái),標(biāo)準(zhǔn)化間隔通常是幾周甚至幾 個(gè)月。由此可實(shí)現(xiàn)每周節(jié)省2個(gè)小 時(shí)。

| 此外,新開(kāi)發(fā)的數(shù)字火花光源將提 供更好的可靠性以及每個(gè)元素的* 佳能量激發(fā)脈沖,從而提高分析的 精密度。








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