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2021年4月21日,上?!茖W(xué)服務(wù)領(lǐng)域的世界賽默飛世爾科技(以下簡稱:賽默飛)宣布推出Helios 5 EXL晶圓雙束透射電子顯微鏡,旨在滿足半導(dǎo)體廠商隨著規(guī)模化經(jīng)營而不斷增加的樣品量以及相應(yīng)的分析需求。這款產(chǎn)品擁有的機器學(xué)習(xí)和*的自動化能力,可提供精確的樣品制備,以支持5納米以下節(jié)點技術(shù)和全環(huán)繞柵極半導(dǎo)體制程以及良率提高。
隨著半導(dǎo)體制程向著更小、更復(fù)雜的方向發(fā)展,半導(dǎo)體廠商需要更多可復(fù)現(xiàn)的、大批量的透射電子顯微鏡(以下簡稱:TEM)分析結(jié)果。業(yè)界對原子級分辨率數(shù)據(jù)的需求不斷增長,為失效分析實驗室?guī)砣碌奶魬?zhàn)。全環(huán)繞柵極技術(shù)(GAA)的進步提升了對于界面、薄膜以及納米級以下分辨率可測量截面更多的需求,這也為大批量TEM分析的升級增加了難度。
通過機器學(xué)習(xí)和閉環(huán)反饋進行極點配置,Helios 5 EXL能提供精確切割,使得操作者在進行高難度的樣品制備時也能始終保持高品質(zhì)產(chǎn)出。與現(xiàn)有的解決方案相比,改進的自動化技術(shù)優(yōu)化了機器與人工操作的比例,旨在樣品產(chǎn)出和技術(shù)資源生產(chǎn)率。
“半導(dǎo)體實驗室正面臨著巨大的壓力,在不增加成本的情況下,他們需要更快地提供TEM分析數(shù)據(jù),以支持制程監(jiān)控并提升學(xué)習(xí)曲線,” 賽默飛半導(dǎo)體事業(yè)部副總裁Glyn Davies說道,“Helios 5 EXL可以通過可擴展的、可復(fù)現(xiàn)的和高精度的TEM樣品制備來應(yīng)對這一挑戰(zhàn)?!?/span>
Helios 5 EXL在保持晶圓結(jié)構(gòu)的完整度上,可以幫助半導(dǎo)體廠商從每個晶圓中提取比現(xiàn)有解決方案更多的數(shù)據(jù),以提高TEM分析成功率。
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