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NX9000 日立高精度實時三維分析FIB-SEM三束系統(tǒng)

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 北京宣毅科技有限公司
  • 品牌 Hitachi/日立
  • 型號 NX9000
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 更新時間 2023/6/20 11:05:25
  • 訪問次數(shù) 1358

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北京宣毅科技有限公司是專業(yè)從事國內(nèi)、外電子測試儀器儀表、燃料電池解決方案銷售公司。近年來公司秉承誠信,可靠,專業(yè),服務(wù)”的經(jīng)營理念,經(jīng)過長期堅持不懈的努力,贏得了同行和客戶的認(rèn)同與支持,在儀器應(yīng)用的多元化、專業(yè)化方面得到了長足發(fā)展,業(yè)務(wù)涵蓋電子測試儀器儀表行業(yè)。公司代理銷售主要品牌有:中國臺灣固緯、泰克、fluke、吉時利、是德、浙江大立、飛礎(chǔ)科、日置等。公司在全國各地?fù)碛性S多高度的廠商支持及長期合作伙伴,憑借著雄厚的技術(shù)優(yōu)勢、高品質(zhì)的產(chǎn)品、完善的售后服務(wù),贏得了各界的良好口碑,先后為各大院校、科研所、通信、電力、電子、鐵路等大型企業(yè)提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品并獲得了*好評。在穩(wěn)固占領(lǐng)國內(nèi)市場同時,也在為接軌市場而努力。總公司確立精品意識,保持科技*,不斷推出更新、更好、更優(yōu)的產(chǎn)品。本公司資源充足,長期擁有名、優(yōu)、特產(chǎn)品向各界提供,讓客戶更好的選擇產(chǎn)品、更合理的運用資金。銷售的產(chǎn)品技術(shù)指標(biāo)達到國家與生產(chǎn)廠標(biāo),今后我們將一如既往、再接再勵、穩(wěn)步前進、開拓創(chuàng)新,隨時為電子廠家與廣大客戶發(fā)展作出應(yīng)有的貢獻。公司主要經(jīng)營:電子測量儀器、電工儀表、無損檢測儀器、電源、安規(guī)測試、機械測量儀表、電子工具、防雷產(chǎn)品、焊接設(shè)備及輔料、手動工具等。

主營燃料電池測試系統(tǒng),旋轉(zhuǎn)環(huán)盤電極、氫標(biāo)準(zhǔn)電極,氣體擴散電極,高電阻電壓計、零歐電流計、電解池、法拉第屏蔽箱等與電化學(xué)相關(guān)的設(shè)備及配件, 并且為客戶提供完整的電化學(xué)解決方案,針對特殊應(yīng)用提供量身定制的非標(biāo)設(shè)備!










主營燃料電池測試系統(tǒng),旋轉(zhuǎn)環(huán)盤電極、氫標(biāo)準(zhǔn)電極,氣體擴散電極,高電阻電壓計、零歐電流計、電解池、法拉第屏蔽箱等與電化學(xué)相關(guān)的設(shè)備及配件, 并且為客戶提供完整的電化學(xué)解決方案,針對特殊應(yīng)用提供量身定制的非標(biāo)設(shè)備!

產(chǎn)地類別 進口 應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源
  • SEM鏡筒與FIB鏡筒互成直角,形成三維結(jié)構(gòu)分析的鏡筒布局

  • 融合高亮度冷場發(fā)射電子槍與高靈敏度檢測系統(tǒng),從磁性材料到生物組織——支持分析各種樣品

  • 通過選配口碑良好的Micro-sampling®系統(tǒng)*和Triple Beam®系統(tǒng)*,可支持制作高品質(zhì)TEM及原子探針樣品

垂直入射截面SEM觀察可忠實反映原始樣品結(jié)構(gòu)

SEM鏡筒與FIB鏡筒互成直角,實現(xiàn)FIB加工截面的垂直入射SEM觀察。
舊型FIB-SEM采用傾斜截面觀察方式,必定導(dǎo)致截面SEM圖像變形及采集連續(xù)圖像時偏離視野,直角型結(jié)構(gòu)可避免出現(xiàn)此類問題。
通過穩(wěn)定獲得忠實反映原始結(jié)構(gòu)的圖像,實現(xiàn)高精度三維結(jié)構(gòu)分析。
同時,F(xiàn)IB加工截面(SEM觀察截面)與樣品表面平行,有利于與光學(xué)顯微鏡圖像等數(shù)據(jù)建立鏈接。

舊型FIB-SEM、直角型FIB-SEM

樣品:小白鼠腦神經(jīng)細胞
樣品來源:自然科學(xué)研究機構(gòu)/生理學(xué)研究所 窪田芳之 先生

Cut&See/3D-EDS*1/3D-EBSD*1可支持各種材料

Cut&See

從生物組織及半導(dǎo)體到鋼鐵及鎳等磁性材料——支持低加速電壓下的高分辨率和高對比度觀察。
FIB加工與SEM觀察之間切換時,不需要重新設(shè)定條件,可高效率的采集截面的連續(xù)圖像

提取截面圖像?三維重構(gòu)圖像




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