Uniscan M470 微區(qū)掃描電化學(xué)工作站
- 公司名稱 深圳市錫成科學(xué)儀器有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) Uniscan M470
- 產(chǎn)地 法國(guó)
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/8/7 15:15:02
- 訪問(wèn)次數(shù) 589
微區(qū)掃描電化學(xué)工作站掃描電化學(xué)工作站微區(qū)電化學(xué)探針掃描電化學(xué)測(cè)試
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臺(tái)階儀，光學(xué)輪廓儀，電化學(xué)工作站，納米壓痕儀，力電聯(lián)測(cè)材料試驗(yàn)機(jī)，介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)，電阻測(cè)試儀，原子力顯微鏡，光學(xué)顯微鏡
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 電化學(xué)工作站 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
Uniscan M470
微區(qū)掃描電化學(xué)工作站基于電化學(xué)掃描探針設(shè)計(jì)，具有超高測(cè)量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學(xué)微區(qū)測(cè)試系統(tǒng)，快速精準(zhǔn)的閉環(huán)定位系統(tǒng)為電化學(xué)掃描探針納米級(jí)研究的需求而特別設(shè)計(jì)。目前已迭代至第四代掃描探針系統(tǒng)，是最靈活的電化學(xué)掃描探針工作平臺(tái)，適配多種探針技術(shù)和不同模塊。
9種探針技術(shù)
掃描電化學(xué)顯微系統(tǒng)（SECM）
交流掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)（ac-SECM）
間歇接觸掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)（ic-SECM）
微區(qū)電化學(xué)阻抗測(cè)試系統(tǒng)(LEIS)
掃描振動(dòng)點(diǎn)擊測(cè)試系統(tǒng)（SVET）
電解液微滴掃描系統(tǒng)（SDS）
交流電解液微滴掃描系統(tǒng)（ac-SDS）
掃描開爾文探針測(cè)試系統(tǒng)（SKP）
非觸式微區(qū)形貌測(cè)試系統(tǒng)（OSP）
M470 微區(qū)掃描電化學(xué)工作站特征：
SECM自動(dòng)處理曲線。
SECM用戶自定義處理曲線步長(zhǎng)變化。
高分辨率讀取。
手動(dòng)或自動(dòng)調(diào)節(jié)相位。
傾斜校正。
X或Y曲線相減（5階多項(xiàng)式）。
2D或3D快速傅里葉變化。
實(shí)驗(yàn)，探針移動(dòng)和區(qū)域繪圖的自動(dòng)排序。
圖形實(shí)驗(yàn)測(cè)序引擎（GESE）。
支持多區(qū)域掃描。
所有實(shí)驗(yàn)多個(gè)數(shù)據(jù)視圖。
峰值分析。
掃描工作臺(tái)（適配所有探針技術(shù)）
掃描范圍（x,y,z）：大于100mm
掃描驅(qū)動(dòng)分辨率 ：高0.1nm
閉環(huán)定位：線性零滯后編碼器，直接實(shí)時(shí)讀出x,z和y位移
軸分辨率（x,y,z）：20nm
大掃描速度：12.5mm/s
壓電（ic-和ac-掃描探針技術(shù)）
振動(dòng)范圍：20nm~ 2μm峰與峰之間1nm增量
最小振動(dòng)分辨率：0.12nm(16-bit DAC,4μm)
壓電晶體伸展：100μm
定位分辨率 ：0.09nm(20-bit DAC ,100μm)
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