Axio Imager 2材料研究金相顯微鏡
- 公司名稱 北京凱瑞永科技有限公司
- 品牌 ZEISS/蔡司
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2025/2/12 13:47:23
- 訪問次數(shù) 1708
聯(lián)系方式:北京凱瑞永18610292692 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
產(chǎn)地類別 | 進口 | 應用領域 | 綜合 |
---|
可重復的結果
享受無振動的工作條件
欣賞AxioImager2穩(wěn)定的成像條件,尤其是在使用高放大倍率或執(zhí)行時間依賴性研究時。由于AxioImager2的機動化,可在始終在恒定條件下工作的同時實現(xiàn)快速且可重復的結果。
用于材料研究的蔡司AxioImager2蔡司金相顯微鏡
用于自動材料分析的開放式顯微鏡系統(tǒng)
當您進行高級材料研究時,請在光學顯微鏡工作流程中引入易用性。使用ZEISSAxioImager2獲得材料的準確且可重復的結果,讓您受益匪淺。選擇適合您的應用的系統(tǒng)。通過顆粒分析、共焦或相關顯微鏡等專用解決方案擴展您的儀器。
可重復的結果
模塊化設計
模塊化設計
獲得增強的靈活性
無論是在學術研究還是工業(yè)研究中,材料顯微鏡都面臨著各種挑戰(zhàn)。借助AxioImager2,您將能夠應對并贏得這些挑戰(zhàn)。連接特定于應用的組件并執(zhí)行例如顆粒分析。研究非金屬夾雜物(NMI)、液晶或基于半導體的MEM。通過共焦或相關顯微鏡專用解決方案擴展您的儀器。
高光學性能
實現(xiàn)出色的對比度和分辨率
使用不同的對比技術檢查一系列材料,例如金屬、復合材料或液晶。
使用反射光并在明場、暗場、微分干涉襯度(DIC)、圓微分干涉襯度(C-DIC)、偏振或熒光下觀察樣品。
使用透射光并在明場、暗場、微分干涉襯度(DIC)、偏振或圓偏振下檢查樣品。對比度管理器確??芍貜偷恼彰髟O置。