BiasHAST高加速老化試驗(yàn)箱

高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的密封性和老化性能。

BiasHAST高加速老化試驗(yàn)箱

高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)是將被測元件放置于一定的環(huán)境溫度中,（環(huán)境溫度依據(jù)被測元件規(guī)格設(shè)定）給被測元件施加一定的偏置電壓。同時控制系統(tǒng)實(shí)時檢測每個材料的漏電流，電壓，并根據(jù)預(yù)先設(shè)定，當(dāng)被測材料實(shí)時漏電流超出設(shè)定時，自動切斷被測材料的電壓，可以保護(hù)被測元件不被進(jìn)一步燒毀。

高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)是將被測元件放置于一定的環(huán)境溫度中,（環(huán)境溫度依據(jù)被測元件規(guī)格設(shè)定）給被測元件施加一定的偏置電壓。同時控制系統(tǒng)實(shí)時檢測每個材料的漏電流，電壓，并根據(jù)預(yù)先設(shè)定，當(dāng)被測材料實(shí)時漏電流超出設(shè)定時，自動切斷被測材料的電壓，可以保護(hù)被測元件不被進(jìn)一步燒毀。

特點(diǎn)：

每顆器件的Vgs獨(dú)立控制

實(shí)時監(jiān)測每個試驗(yàn)器件的Id、Ig

控制上、下電時序

全過程試驗(yàn)數(shù)據(jù)保存于硬盤中，可輸出Excel

試驗(yàn)報(bào)表和繪制全過程漏電流IR變化曲線

漏電流超限保護(hù)，自動切斷測量回路

應(yīng)用：

二極管，三極管，MOSFET，IGBT，SBD，GaN Fet, SCR以及各種封裝形式的射頻場效應(yīng)管、射頻功率器件進(jìn)行溫濕度下反偏試驗(yàn) 。