最深入的材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM
- 公司名稱 賽默飛世爾科技(中國)有限公司
- 品牌 FEI/賽默飛
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2025/1/20 15:27:48
- 訪問次數(shù) 50
聯(lián)系方式:賽默飛世爾科技021-60355786 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 熱場發(fā)射 |
---|---|---|---|
應用領域 | 環(huán)保,化工 |
最深入的材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM
最深入的材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM適用于高分辨率 TEM 和 STEM 以及準確化學定量的 TEM 顯微鏡
Talos F200X G2 透射電子顯微鏡功能
可搭配眾多高分辨率場發(fā)射槍 (FEG)
選擇高亮度 X-FEG 或超高亮度冷場發(fā)射槍 (X-CFEG)。X-CFEG 將 (S)/TEM 成像及能量分辨率相結合。
直觀的軟件
Thermo Scientific Velox 軟件可實現(xiàn)對多模式數(shù)據(jù)的快速、輕松的采集和分析。
更短的化學成分獲得周期
快速、精確的定量 EDS 分析可在 2D 和 3D 中揭示納米級細節(jié),同時保持高潔凈度。
更多空間
為動態(tài)實驗添加特定用途的原位樣品桿。
高度可重復的數(shù)據(jù)采集
所有日常 TEM 調整、例如聚焦、共心高度、電子束移位、冷凝器光闌、電子束傾斜樞軸點和旋轉中心都是自動進行的,確保您始終從最佳成像條件開始工作。實驗可以能夠再現(xiàn)的方式重復進行,從而使您能夠專注于研究而非儀器操作。
更好的圖像數(shù)據(jù)
高通量 STEM 成像采用同步多信號檢測,可為高質量圖像提供更高的對比度。
高質量 (S)TEM 圖像和準確的 EDS
通過創(chuàng)新且直觀的 Velox 軟件用戶界面采集高質量的 TEM 或 STEM 圖像。Velox 軟件中的 EDS 吸收校正功能可實現(xiàn)極準確的定量。
提高了生產率
超穩(wěn)定的色譜柱、借助 SmartCam 的遠程操作和恒定功率物鏡,可進行快速模式和高電壓 (HT) 切換。多用戶環(huán)境的快速輕松切換。
性能數(shù)據(jù)
HRTEM 線分辨率 |
|
STEM 分辨率 |
|
Super-X EDS 系統(tǒng) |
|
電子能量損失光譜 (EELS) 能量分辨率 |
|
200 kV 下的槍亮度 |
|