奧林巴斯超聲測厚儀 45MG
- 公司名稱 深圳山河精測科技有限公司
- 品牌 OLYMPUS/奧林巴斯
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/2/18 18:36:29
- 訪問次數(shù) 20
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工業(yè)顯微鏡，超聲波探傷儀，超聲波測厚儀，渦流探傷儀，相控陣探傷儀，工業(yè)內(nèi)窺鏡，雙折射應(yīng)力儀，三坐標，工業(yè)鏡頭，顯微鏡物鏡，非接觸3D測量儀，激光共聚焦顯微鏡，納米壓痕儀，顯微鏡下微取樣系統(tǒng)，無掩膜曝光系統(tǒng)。
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工 |
奧林巴斯超聲測厚儀 45MG操作簡便、堅固耐用、性能可靠
45MG超聲測厚儀操作簡便、堅固耐用、性能可靠
標準功能
裝備了基本配置的奧林巴斯超聲測厚儀 45MG是一款操作簡便的測厚儀，操作人員只需得到最基本的培訓(xùn)，就可以完成大多數(shù)普通的測厚應(yīng)用。不過，45MG測厚儀添加了可選軟件選項并使用了附加的探頭后，就會變成一款高級測厚儀，可以完成一般的初級儀器無法完成的應(yīng)用。此外，大多數(shù)選項可以在購買儀器時單獨購買，或在日后需要時購買。
•與奧林巴斯的所有雙晶探頭兼容，可為內(nèi)部腐蝕的金屬進行厚度測量
•最小值/至大值模式
•兩個報警模式
•差值模式
•時基B掃描
•縮減率
•增益調(diào)整（標準、高、低）
•通過密碼鎖定儀器
可選功能
只需幾次按鍵，即可完成從簡單腐蝕測厚儀到多功能精確測厚儀的華麗變身
45MG測厚儀提供需使用密碼激活的5個軟件選項，從而成為一款業(yè)內(nèi)具有廣泛用途的測厚儀。
回波到回波/穿透涂層技術(shù)
使用回波到回波選項，儀器屏幕上會顯示金屬的實際厚度，而涂層的厚度會被忽略。 穿透涂層技術(shù)測量金屬厚度與非金屬涂層的厚度，這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，在進行厚度測量時，無需去掉材料表面的漆層或涂層。
單晶
這個選項可對很多材料，如：金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃及陶瓷，進行非常精確的厚度測量?？膳c范圍在 2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
單晶高穿
透這個選項可對較厚或衰減性較高的材料，如：玻璃纖維或鑄造金屬，進行厚度測量。可與范圍在0.5 MHz到 30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個選項包含單晶選項。
數(shù)據(jù)記錄器
45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地存儲和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。 這個選項包含基于Windows的GageView接口應(yīng)用程序。
帶有波形調(diào)整功能的實時A掃描
用戶購買了這個可選實時A掃描模式后，可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱A掃描），核查厚度測量讀數(shù)，對增益和空白設(shè)置進行手動調(diào)整，以在具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用中增強儀器的測量性能。這個有益的選項包含手動增益調(diào)整、擴展空白、回波空白、范圍及延參數(shù)。
對內(nèi)部腐蝕的金屬材料進行厚度測量
使用雙晶探頭
45MG測厚儀的一個主要應(yīng)用是測量那些受到了腐蝕或侵
蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、船體外殼及其它結(jié)構(gòu)
的剩余厚度。在這些應(yīng)用中常使用的是雙晶探頭。
• 用于標準D79X系列雙晶探頭的自動探頭識別功能
• 當校準過程中出現(xiàn)了雙回波時，會發(fā)出雙回波警告
• 回波到回波/穿透涂層技術(shù)選項可在帶有漆層和涂層的表面
上測量材料的厚度
• 高溫測量：可測量溫度高達500 °C的材料。
B掃描成像（基于時間）
45MG測厚儀所配備的B掃描功能，可在屏幕上將實時厚度讀數(shù)轉(zhuǎn)換為橫截面圖像。這個標準功能非常有用，因為可使用戶觀察到材料的厚度值隨著探頭的移動而發(fā)生的變化。探頭一接觸到材料表面，就會激活B掃描。凍結(jié)最小值功能用于顯示已掃查區(qū)域中的最小厚度值。45MG測厚儀的可選購數(shù)據(jù)記錄器最多可存儲單個B掃描中的10000 個厚度讀數(shù)。
高溫表面
45MG測厚儀使用D790系列探頭（D790、D790-SM、 D790-RL和D790-SL）測量高溫材料時（溫度可高達 500 oC），可以獲得穩(wěn)定的厚度讀數(shù)，因此可以說這款儀器為用戶提供了一種理想的高溫檢測解決方案。其零位補償功能，通過補償探頭延遲塊因熱漂移而產(chǎn)生的溫度變化，提高了在高溫表面上進行測量的精確性。
回波到回波/穿透涂層選項
回波到回波
測厚儀通過使用多重底面回波，可以顯示不計涂層厚度的實際金屬厚度：
• 自動回波到回波
• 手動回波到回波可啟用以下功能（只可在選購的A掃描中使用）：
- 增益調(diào)整
- 擴展空白
- 回波空白
穿透涂層技術(shù)
使用單個底面回波測量金屬的實際厚度。這個技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度，這兩個厚度都是根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整的數(shù)據(jù)。因此，要測量金屬材料的厚度，無需去掉其表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術(shù)使用D7906 SM、D7906-RM 和D7908雙晶探頭
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