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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>測厚儀>在線測厚儀> 日本Otsuka大塚SF-3分光干涉式晶圓膜厚儀

日本Otsuka大塚SF-3分光干涉式晶圓膜厚儀

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 成都藤田科技有限公司
  • 品牌 OTSUKA/日本大塚
  • 型號
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時間 2025/2/21 13:48:27
  • 訪問次數(shù) 32

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公司簡介

COMPANY INTRODUCTION

成都藤田科技有限公司經(jīng)營進出口業(yè)務7年有余,位于西南地區(qū)四川成都;通過不斷努力、進步與各類日本、部分歐美品牌建立長期穩(wěn)定的合作關系,覆蓋電子產(chǎn)品、工具、電子元器件、儀器儀表、防靜電設備、輔料、自動化設備、非危險性化工產(chǎn)品、機械設備及配件、通信設備。

成都藤田科技供貨渠道

因為長期良好的經(jīng)營環(huán)境,獲得國內(nèi)外客戶與商社的喜愛,隨著互聯(lián)網(wǎng)的發(fā)展建立了專有的網(wǎng)絡模式MRO;

堅持以服務客戶為主的經(jīng)營理念、追求客戶滿意服務為宗旨、禮貌誠信為原則提供客戶服務,并以成為客戶值得信賴的工業(yè)品綜合服務商為目標。

MRO兩種形式

  1. 超市建立工業(yè)品專柜,大型超市也會經(jīng)營部分工業(yè)品,但種類和數(shù)量有限。

  2. 網(wǎng)上工業(yè)品超市,這種形式配送可為客戶大規(guī)模找尋產(chǎn)品,使供應商和采購商都實現(xiàn)“進入一個點,得到一大片”連鎖效應,有效降低采購商采購成本。

代理品牌:

  1. 日本MUSASHI武藏(點膠機

  2. 日本HOYA豪雅 (UV固化燈,玻璃鏡片)

  3. 日本SIGMAKOKI西格瑪 (光學元件、物鏡等)

  4. 日本YUMEX優(yōu)美科思(各種疝氣燈)

  5. 日本TOKISANGYO東機產(chǎn)業(yè)(粘度計

  6. 日本KANOMAX加野(風速儀)

  7. 日本YAMADA雅瑪達(隔膜泵)

  8. 日本EPSON愛普生 (機械臂)

  9. ATTEN安泰信 (焊接產(chǎn)品)

  10. 日本TSUBOSAN壺三(銼刀工具)

  11. 日本sakurai櫻井(無塵紙

  12. 韓國DIT東日技研(除靜電產(chǎn)品)

  13. 韓國HANIL韓一(攪拌機)

優(yōu)勢品牌:

  1. 日本Otsuka大塚電子(晶圓、覆膜測厚儀)

  2. 日本FLUORO福樂(用于晶圓的搬運)

  3. 日本AND艾安得(微量電子 分析天平)

  4. 英國Meech密其(非接觸式除塵系統(tǒng))

  5. 日本SSD西西蒂(防靜電設備)

  6. 日本NEW-COSMOS 新宇宙(氣體檢測儀

  7. YIZOMO一子沫(拉拔機)

  8. 日本FURUPLA富如拉(噴壺)

  9. 日本PISCO匹士克(氣動元件

  10. 日本TECHNO特古羅(錫爐)

  11. 日本AMANO安滿能(除塵設備)

  12. 日本MALCOM馬康(粘度計)

  13. 日本HOZAN寶山(鑷子、鉗子等工具)

  14. 日本MITUTOYO三豐 (測量器具)

  15. 美國SIMCO思美高(防靜電、除塵產(chǎn)品);

成都藤田科技為廣大客戶提供一體化、全面、優(yōu)質(zhì)高效服務。

 

 

 

進出口業(yè)務,日本武藏點膠機,日本豪雅檢測光源,海康視覺成像,安泰信焊錫設備

產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 面議
應用領域 綜合

日本Otsuka大塚SF-3分光干涉式晶圓膜厚儀-成都藤田科技提供

日本Otsuka大塚SF-3分光干涉式晶圓膜厚儀

產(chǎn)品特色

● 非接觸式、非破壞性光學式膜厚檢測
● 采用分光干涉法實現(xiàn)高度檢測再現(xiàn)性
● 可進行高速的即時研磨檢測
● 可穿越保護膜、觀景窗等中間層的檢測
● 可對應長工作距離、且容易安裝于產(chǎn)線或者設備中
● 體積小、省空間、設備安裝簡易
● 可對應線上檢測的外部信號觸發(fā)需求
● 采用適合膜厚檢測的獨自解析演算法。(已取得)
● 可自動進行膜厚分布制圖(選配項目)


規(guī)格式樣


SF-3

膜厚測量范圍

0.1 μm ~ 1600μm※1

膜厚精度

±0.1% 以下

重復精度

0.001% 以下

測量時間

10msec 以下

測量光源

半導體光源

測量口徑

φ27μm※2

WD

3 mm ~ 200 mm

測量時間

10msec 以下

※1 隨光譜儀種類不同,厚度測量范圍不同
※2 小φ6μm

核心特點


  1. 微區(qū)測量能力:最小光斑直徑3μm,搭配自動XY平臺(200×200mm),實現(xiàn)晶圓、FPD(如OLED、ITO膜)等微小區(qū)域的精準厚度分布映射。


  2. 跨行業(yè)適用性:專為半導體(SiO?/SiN膜)、顯示面板(彩色光阻)、DLC涂層等行業(yè)設計,支持粗糙表面、傾斜結構及復雜光學異向性樣品的分析。


  3. 安全與擴展性:區(qū)域傳感器觸發(fā)防誤觸機制,獨立測量頭支持定制化嵌入,滿足在線檢測(inline)與實驗室研發(fā)需求。

日本Otsuka大塚SF-3分光干涉式晶圓膜厚儀-成都藤田科技提供





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