天瑞Skyray Explorer 7000X熒光礦石分析儀

產(chǎn)品說明、技術(shù)參數(shù)及配置:

秉承20多年X熒光光譜儀研發(fā)經(jīng)驗，天瑞儀器全新一代便攜式XRF礦石分析儀--探索者EXPLORER7000再次帶來了一場分析領(lǐng)域的革命。EXPLORER7000引入數(shù)字多道技術(shù)，使檢出限更低，穩(wěn)定性更高，適用面更廣，性能媲美臺式機;小巧便攜的體積在探礦、找礦以及各類地質(zhì)礦樣多元素檢測和分析、礦渣精煉分析中充分發(fā)揮作用，使探礦工作更為簡單、輕松。

充分挖掘礦山價值

高清攝像頭，可對被檢測的礦脈或礦點部位進行更直觀的觀察，并對開采過程進行精確管理和控制，隨時檢測礦石品位。

對選礦過程中原礦、精礦和尾礦等進行精確快速分析，為礦石品位的測定、礦物貿(mào)易、加工以及再利用提供價值判定依據(jù)。

環(huán)境監(jiān)控

對開采礦山周圍土壤中的重金屬進行監(jiān)測和檢測，評估礦山環(huán)境的修復(fù)情況，監(jiān)測好礦山周邊的環(huán)境。

地礦行業(yè)應(yīng)用優(yōu)勢:

個性化定制工作模式

多種礦樣模式選擇和無限數(shù)目模式的自由添加，根據(jù)客戶需求定制工作模式。

準(zhǔn)確界定礦山邊界

內(nèi)置GPS功能，在野外可隨時搜索衛(wèi)星信號，在測試時可隨時記錄測量的經(jīng)緯度、海拔高度，確定取樣點的地理位置信息，并隨測試報告同時保存。

獲得的坐標(biāo)分析數(shù)據(jù)可繪制成礦山礦石分布圖，從而快速普查大范圍礦區(qū)，準(zhǔn)確掌握礦脈走向，界定礦山邊界，做到優(yōu)先開采富礦區(qū)，大大提高生產(chǎn)效率。

內(nèi)置藍牙功能，配置藍牙打印機后，可實現(xiàn)重點礦區(qū)原位測試的“邊測邊打”功能。

六大性能優(yōu)勢:

更便捷的操作

重量輕，體積小，人體工程學(xué)把手設(shè)計，配有專用儀器套，更易抓握，野外使用更方便。

270°可旋轉(zhuǎn)5寸高清屏，支持多點操控，任何光線下都能清晰顯示。

密封式一體設(shè)計，具備防水防塵功能，可在惡劣環(huán)境下連續(xù)使用。

無需制備樣品，可直接對待測物表面進行測定。儀器既可手持進行快速測試，也能使用測試座對樣品進行較長時間的精確測試。

性能

無損快速檢測，對準(zhǔn)即測，一秒可報結(jié)果。性能堪比臺式機，檢測效果又快又準(zhǔn)。

同時快檢測鈦、釩、鉻、錳、鐵、鈷、鎳、銅、鋅、鎵、鍺、鋯、鈮、鉬、釕、銠、鈀、銀、銦、錫、銻、鉿、鉭、鎢、錸、鉑、金、鉛、鉍、鎂、鋁、硅、磷、硫元素，并且可以根據(jù)客戶需求進行定制再增加元素。

超近光路設(shè)計，儀器無需充氦氣，可檢測從Mg開始的輕元素，可以滿足特定用戶的需求。

更強勁的電力

選配超大27000mAh鋰電池，續(xù)航工作時間可達三天。并配備交流和車載充電器，保證電力供應(yīng)。

內(nèi)置記憶電池，換電池不斷電。

配置

微型光管、Fast-SDD探測器、微型數(shù)字信號多道處理器及智能分析模塊四大核心技術(shù)的引入，使其具有臺式相近的測試精度。

采用超高主頻及大內(nèi)存，超大存儲空間，可海量存儲數(shù)據(jù)。全新自主研發(fā)的數(shù)字多道技術(shù)，保證每秒有效采譜計數(shù)可達500kcps

準(zhǔn)直濾波系統(tǒng)，其組合達到極限12組，滿足客戶的不同條件下的檢測需求。

內(nèi)置800萬像素高清晰攝像頭，隨時觀察樣品測試位置，使測量更加精準(zhǔn)。

更安全的防護

智能三色預(yù)警系統(tǒng):LED三色長燈帶設(shè)計，360度顯示。

通電開機時綠燈亮，測試紅燈閃爍，設(shè)備故障黃色燈閃爍，儀器狀態(tài)，一目了然。

三重安全防護功能:

a:自動感應(yīng)，沒有樣品時儀器不工作，無射線泄漏。

b:采用加厚防護測試壁，有效防止散射。

c:配送防護安全罩，防周邊輕基體散射。

安全聯(lián)動鎖裝置，當(dāng)軟件無法控制關(guān)閉，輕輕一按，第一時間保護您的安全，守護最后關(guān)卡。

更智能的軟件

EXPLORER7000便攜式X熒光礦石分析儀配有專門針對礦石行業(yè)的專業(yè)應(yīng)用軟件，具有智能化、高靈敏度、測試時間短、操作簡易等特點。

全新的智能軟件，一鍵智能操作，采用雙模設(shè)計(用戶模式和專家模式)。用戶模式一鍵識別礦樣類別;專家模式可進行增加元素，增加特定曲線等深入分析操作。

內(nèi)置強度校正方法，校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。

天瑞Skyray Explorer 7000X熒光礦石分析儀