獲得培訓(xùn)或認(rèn)證

您的當(dāng)務(wù)之急是確保獲得使用PMI分析儀的必要培訓(xùn)和認(rèn)證。

對于使用3B類激光的激光光譜儀和任何XRF光譜儀而言，您需要注冊您的儀器，此外還需設(shè)有相關(guān)監(jiān)督人員。由于法規(guī)因國家而異，請務(wù)必確保您了解這些法規(guī)對您所產(chǎn)生的影響。例如，在某些國家使用XRF光譜儀時(shí)，您可能需要參加為期兩周的培訓(xùn)課程。

請確保您接受輻射培訓(xùn)，這不僅是您所處國家的一項(xiàng)法律要求，而且是一項(xiàng)操作要求。在日立分析儀器，我們針對不同儀器類型提供基本的安裝操作培訓(xùn)以及專門的培訓(xùn)學(xué)院和其他持續(xù)培訓(xùn)機(jī)會(huì)。

請不要設(shè)想您可以在未接受任何培訓(xùn)或獲得認(rèn)證的情況下直接使用分析儀。未經(jīng)培訓(xùn)，禁止操作。

制備樣品

請確保被測材料是裸金屬。如果您想測定雙相不銹鋼中的碳或氮等元素，則必須花時(shí)間正確制備樣品。

請確保選擇您制備的被測樣品表面符合正在使用的分析設(shè)備的要求。切勿認(rèn)為不同的儀器具有相同的規(guī)范。您可使用適配器檢測曲面、焊縫和焊線。

請不要檢測有厚鍍層的材料表面，否則會(huì)導(dǎo)致結(jié)果失真。這些鍍層包括有顏料、油脂、油渣或其他潤滑劑以及煤渣或氧化層的材料。

請不要使用裸露手指觸摸磨光面。

請不要在樣品制備完畢后等待太長時(shí)間再進(jìn)行分析。否則，等待時(shí)間太長會(huì)導(dǎo)致氧化并破壞分析的準(zhǔn)確性。

請不要使用金相砂紙拋光樣品。平整的樣品表面對OES分析非常重要，因?yàn)樘筋^的開口必須被材料覆蓋才能發(fā)揮佳作用。

獲得正確的測試流程

請確保分析前檢查儀器狀態(tài)。您在確認(rèn)受測材料和元素的類型、形式和數(shù)量的同時(shí)，也應(yīng)對儀器本身狀態(tài)進(jìn)行檢查。這將包括日常維護(hù)和對參考材料的分析檢驗(yàn)——我們將為您提供一份校準(zhǔn)樣品。例如，OES儀器將需要檢查氬氣供應(yīng)和燃燒點(diǎn)（不良的燃燒點(diǎn)表明釋放物未充分冷凝）。

請確保重復(fù)測量。我們建議至少重復(fù)三次，以確保分析精度。

請確保遵循輻射規(guī)則。使用手持XRF儀器時(shí)，應(yīng)始終將樣品置于適當(dāng)表面上，并始終保持*向下的狀態(tài)。使用XRF分析儀時(shí)，請確保在進(jìn)行測量時(shí)不要將樣品拿在手中。

請確保使用正確的配件用于測量時(shí)無法*覆蓋樣品。如您有具體需求，可與我們團(tuán)隊(duì)成員進(jìn)行討論。

請確保為不合格材料制定一個(gè)流程。如某材料驗(yàn)證失敗，則您需要對該材料進(jìn)行標(biāo)記和分類，以便進(jìn)行進(jìn)一步的分析和檢查。

請不要測量邊緣或傾斜表面。對于XRF和LIBS而言，這可能導(dǎo)致X射線輻射的散射或激光束反射，而對于OES而言，則可能導(dǎo)致空氣進(jìn)入測量腔室內(nèi)。由此會(huì)因氧化作用而破壞分析。

評估結(jié)果

請確保您擁有符合材料特性的低元素?cái)?shù)量，該材料需符合被檢材料的材料標(biāo)準(zhǔn)。對于不銹鋼而言，304（DIN 1.4301）與316（DIN 1.4401）之間的區(qū)別是鎳、鉻和鉬的含量不同。

請確保牢記PMI始終是一種產(chǎn)品分析，它或許與熔體分析不同。

請確保牢記編制一份包含測量中所有重要數(shù)據(jù)的報(bào)告。

日立分析儀器PMI產(chǎn)品系列旨在大限度地減少用戶培訓(xùn)。您可快速將這些儀器納入您的運(yùn)營計(jì)劃之中，并獲取分析速度和準(zhǔn)確性提高所帶來的益處。

40年來，我們的專家團(tuán)隊(duì)一直在幫助企業(yè)充分利用PMI分析。您可與我們聯(lián)系獲得我們的幫助，或預(yù)約樣機(jī)演示來了解我們的儀器運(yùn)作。