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8月18日 網(wǎng)絡(luò)講堂 | X射線分析的應(yīng)用方向及RoHS檢測
研討會介紹
在本次網(wǎng)絡(luò)課程中，您將了解到日立EA1400型X射線熒光分析儀的諸多解決方案及應(yīng)用。其中包括輕元素檢測，凹面樣品檢測，細小異物檢測，鍍層厚度檢測等功能。在有效提高檢測能力的同時，高速自動進樣器也提高了檢測效率。其將幫助您在日常工作中，無論是對應(yīng)RoHS篩選或其它無損化檢測需求都能得心應(yīng)手。
會議主題：X射線分析的應(yīng)用方向及RoHS檢測
會議時間: 2022-08-18 14:00
主辦單位：日立分析儀器（上海）有限公司
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我們的講師
潘爾超
應(yīng)用技術(shù)&實驗室負責(zé)人
15年相關(guān)行業(yè)從業(yè)經(jīng)驗，活躍于儀器分析與第三方檢測行業(yè)。先后任職SGS、SEIKO Nano、日立分析儀器（上海）有限公司。長期從事X射線熒光檢測，XRF鍍層測厚分析，等離子發(fā)射光譜等應(yīng)用技術(shù)工作。
參會指南
一、參會條件
1、免費報名無需任何差旅費用只需要一臺電腦或一部手機，網(wǎng)絡(luò)帶寬超過128K。
2、報告專家PPT講解將實時傳送給所有參會者，參會者也可通過文字向報告人提問，報告人在報告結(jié)束后統(tǒng)一進行解答。
二、參會方式（手機電腦均可參會）
1、報名參會并通過審核后，您將會收到郵件通知，并在會前一天收到提醒參會的短信通知。
2、會議當(dāng)天進入儀器信息網(wǎng)網(wǎng)絡(luò)講堂首頁，點擊“進入會場"，填寫報名時手機號，即可登錄會場參會。