當(dāng)前位置:日立分析儀器(上海)有限公司>>XRF光譜儀>>手持式X射線熒光光譜儀>> X-MET8000手持式X射線熒光光譜儀
手持式X射線熒光光譜儀(HHXRF)的X-MET8000系列提供進(jìn)行快速的合金等級鑒定及多種材料(固體和粉末金屬、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等)的準(zhǔn)確化學(xué)結(jié)構(gòu)分析所需的性能。 X-MET方便、耐用且使用簡單,可為您提供可靠的結(jié)果。
我們提供多種型號的產(chǎn)品,符合您不同應(yīng)用的所有分析需要和預(yù)算。
為什么選擇手持式X射線熒光光譜儀?
性能
X-MET提供輕元素 (鎂、鋁、硅、磷、硫、氯)分析,檢測限度低,且可每天提供準(zhǔn)確可靠結(jié)果。
通過靈活的基本參數(shù)法(FP)法進(jìn)行分析,從而測試多種材料;或若需結(jié)果可追溯和高度準(zhǔn)確,則使用實證校準(zhǔn)。
操作簡單
大觸摸屏和基于圖標(biāo)的用戶界面,使用戶只需要極少的培訓(xùn)便可開始操作。
符合人體工學(xué)
X-MET輕便(僅1.5公斤)、簡潔、平衡性好,可供長時間使用,而疲勞度zui低。
堅固耐用而擁有成本低
符合IP54要求(等同于NEMA 3)、防水、防塵的X-MET可供室內(nèi)外使用。
通過MIL-STD-810G 耐用標(biāo)準(zhǔn)測試。
其可選的防扎窗口膜可預(yù)防在粗糙表面上測量導(dǎo)致探測器損壞而出現(xiàn)的高昂維修費用。
高級數(shù)據(jù)管理
靈活:可將多達(dá)100,000條結(jié)果保存在X-MET上,將報告輸出到U盤或個人計算機(jī),或自動將X-MET數(shù)據(jù)存儲在LiveData云端。
應(yīng)用
X-MET8000 | X-MET8000 | X-MET8000 | |
廢金屬回收 | ? | ? | ? |
材料可靠性鑒定(PMI)檢查 | ? | ? | |
制造與 PMI QA/QC | ? | ? | ? |
貴金屬 | ? | ? | ? |
監(jiān)管機(jī)構(gòu)合規(guī)篩查 (消費品、包裝、原材料…) | ? | ? | |
環(huán)境土壤篩查 | ? X-MET8000 Optimum Geo | ? X-MET8000 Expert Geo | |
礦石和礦物 | ? X-MET8000 Optimum Geo | ? X-MET8000 Expert Geo | |
金屬鍍層厚度測量 | ? | ? | ? X-MET8000 Expert / Expert CG |
科技考古 | ? | ? X-MET8000 Expert / Expert CG / Expert Geo |
手持式XRF光譜儀應(yīng)用于QA/QC
為預(yù)防潛在產(chǎn)品事故及其昂貴的后果,在不同生產(chǎn)階段中進(jìn)行質(zhì)量控制和質(zhì)量保證至關(guān)重要。通過手持式X射線熒光(HHXRF),您可以在進(jìn)料送達(dá)時進(jìn)行快速檢查,并且確認(rèn)從制造到送貨過程中使用了合格的合金材料。
為何選擇X-MET8000 系列手持式合金分析儀來完成此任務(wù)?
X-MET提供:
為快速和可靠金屬分析提供優(yōu)秀性能
為準(zhǔn)確的合金牌號鑒定提供多種和可定制的合金牌號數(shù)據(jù)庫
堅固耐用而擁有成本低
使用方便:用戶只需接受簡單培訓(xùn)
多樣化數(shù)據(jù)管理:將數(shù)據(jù)存儲到分析儀、創(chuàng)建測試報告或使用我們的應(yīng)用程序和云服務(wù),隨時隨地管理您的數(shù)據(jù)。
手持式XRF光譜儀應(yīng)用于材料可靠性鑒定
材料可靠性鑒定(PMI)計劃使工廠操作員和維修員可測試安裝前后的關(guān)鍵流程組件,以確保資產(chǎn)完整性,并預(yù)防潛在的災(zāi)難性故障。通過手持式X射線熒光分析儀(HHXRF),您可以在幾秒內(nèi)在現(xiàn)場上確認(rèn)合金的牌號及其元素化學(xué)成分。您無需再依賴供應(yīng)商的認(rèn)證。
為何選擇 X-MET8000 手持式光譜儀進(jìn)行PMI檢查?
為快速和可靠金屬分析提供優(yōu)秀性能
為準(zhǔn)確的合金鑒定提供多種和可定制的等級數(shù)據(jù)庫。
牢固耐用而擁有成本低
使用方便:用戶只需接受簡單培訓(xùn)
以完成任務(wù)為主的設(shè)計:便于使用的人體工學(xué),優(yōu)化的設(shè)計,以便檢測難以到達(dá)位置的材料(如彎曲處和角落)
多樣化數(shù)據(jù)管理:可將結(jié)果保存在分析儀上、將定制報告輸出到U盤或個人計算機(jī),或使用應(yīng)用程序或云服務(wù)存儲并分享您的數(shù)據(jù)。
手持式XRF光譜儀應(yīng)用于廢舊金屬回收
每年,超過4億噸廢金屬被處理。通過檢測對廢金屬進(jìn)行分類,從將混合廢料分類為低價值和高價值材料,到確定進(jìn)入熔體的廢料成分和產(chǎn)出質(zhì)量,金屬回收過程中的各個階段都可增加價值。我們的X-MET分析儀被用于在世界各地的廢金屬加工和回收市場,為金屬回收過程中的每個階段增添價值。
為什么選擇X-MET8000?
通過精確的合金牌號鑒定和元素化學(xué)分析(包括分析雜質(zhì)和懲罰元素),最大限度地提高生產(chǎn)力和利潤
檢測合金、廢催化轉(zhuǎn)換器和其他材料
易于使用:在幾秒后即可開始測試;用戶只需接受簡單培訓(xùn)
堅固耐用:IP54評級(密封防塵和防濺水),并通過MIL-STD 810G檢測,堅固耐用
擁有成本低:我們的可選防扎窗口在測量轉(zhuǎn)角和其他尖銳物體時保護(hù)分析儀的檢測器,避免昂貴的維修
強(qiáng)大的數(shù)據(jù)管理:將數(shù)據(jù)存儲在分析儀、U盤,或用我們的應(yīng)用程序和云服務(wù)與同事和買家實時分享結(jié)果
手持式XRF光譜儀應(yīng)用于采礦
X-MET8000手持式XRF (HHXRF)分析儀在采礦的多個階段——從早期探索到現(xiàn)場關(guān)閉后的環(huán)境監(jiān)控——提供快速、現(xiàn)場的地球化學(xué)分析。這大大減少了對實驗室分析的需求,加快了決策過程并降低了檢測成本。
為什么選擇X-MET8000 Geo?
性能:我們的革命性BOOST™技術(shù)和大面積硅漂移探測器提供相當(dāng)于其他HHXRF型號10倍的靈敏度,提供測量探路儀或懲罰元件所需的低限探測范圍。
快速分析:在幾秒鐘內(nèi)測量多達(dá)40個元素;快速完成測試程序。
因牢固耐用而降低擁有成本,并使停工時間縮至最短。
出色的穩(wěn)定性:無論天氣如何,您都可信賴結(jié)果。
易于使用:用戶只需接受簡單培訓(xùn)。
內(nèi)置GPS:將地理坐標(biāo)與測試結(jié)果相結(jié)合,實現(xiàn)精確的站點映射。
強(qiáng)大的數(shù)據(jù)管理功能:隨時隨地通過藍(lán)牙打印機(jī)打印結(jié)果,并將其附在樣本袋上,以避免混淆;將其導(dǎo)出到U盤,或使用我們的應(yīng)用程序和云服務(wù)隨時隨地實時管理結(jié)果。
手持式XRF光譜儀應(yīng)用于土壤重金屬檢測
土壤污染逐漸由工業(yè)流程(如采礦和制造)、農(nóng)業(yè)(使用肥料和殺蟲劑)或廢物處理(如錯誤地進(jìn)行垃圾填埋)等人類活動造成。
暴露在某些污染物中如鉛和鎘等元素對人體健康有害,許多國家已經(jīng)制定了相關(guān)法規(guī)和方案,以識別污染區(qū)域并管理修復(fù)過程(補(bǔ)救)。
例如,作為美國廢物管理計劃的一部分,美國環(huán)保局引入了6200標(biāo)準(zhǔn),通過現(xiàn)場便攜式/手持式X射線熒光(XRF)光譜法,確定土壤和沉積物中的關(guān)鍵元素。
操作者可以使用HHXRF,快速在現(xiàn)場篩選重金屬和其他污染物。這使他們能夠大大減少送到場外實驗室進(jìn)行分析的樣本數(shù)量,并降低了分析成本和完成測試程序所需的時間。通過孤立問題區(qū)域和在現(xiàn)場確定補(bǔ)救邊界,操作者可大幅度地減少土壤處理和處置成本。
為何選擇X-MET8000 Expert Geo?
性能:利用我們革命性的BOOST™技術(shù)和大面積硅漂移探測器,滿足當(dāng)今和未來的檢測要求。它們提供了相當(dāng)于其他HHXRF型號10倍的靈敏度,為測量土壤、污泥和沉積物中關(guān)鍵元素(例如美國EPA 6200方法RCRA和優(yōu)先元素)提供所需的低檢測限制
快速分析:快速完成調(diào)查
杰出的穩(wěn)定性:無論天氣如何,您都可以信賴結(jié)果。
因牢固耐用而降低擁有成本,并使停工時間縮至最短
易于使用:用戶只需接受簡單培訓(xùn)
嵌入式GPS:將地理坐標(biāo)與測試結(jié)果相結(jié)合,實現(xiàn)精準(zhǔn)的站點映射。
強(qiáng)大的數(shù)據(jù)管理功能:隨時隨地通過藍(lán)牙打印機(jī)打印結(jié)果,并將其附在樣本袋上,以避免混淆;將其導(dǎo)出到U盤,或使用我們的應(yīng)用程序和云服務(wù)隨時隨地實時管理結(jié)果
手持式XRF光譜儀應(yīng)用于合規(guī)性檢測
無論您是電子設(shè)備、兒童產(chǎn)品和其他消費品的制造商、零售商或進(jìn)口商,您都將受到關(guān)于限制有害物質(zhì)(RoHS)以及其他指令(例如2008年CPSIA - 消費者產(chǎn)品安全改進(jìn)法、包裝指令,WEEE - 電子電氣設(shè)備廢棄物、CA 65號等)的影響。這些指令已經(jīng)在不同的地區(qū)被制定,以提高產(chǎn)品的安全性,并通過控制產(chǎn)品的“上游"來源和處理技術(shù),減少環(huán)境污染物。這一立法影響到全球各個行業(yè),包括原材料供應(yīng)商,組件和成品制造商和零售商。
通過X射線熒光(XRF)進(jìn)行合規(guī)性篩查,提供了被測組件元素化學(xué)成分的信息。因其速度快且無損,因此被廣泛使用,且收到標(biāo)準(zhǔn)檢測程序(如IEC 62321方法)的支持。
為什么選擇X-MET8000 Expert CG?
便攜:小巧輕便,X-MET可被帶到需要分析的地方(例如進(jìn)貨檢驗、倉庫、從工廠到工廠)
快速而準(zhǔn)確地篩選各種材料(例如聚合物、合金)
快速:當(dāng)場做出接受/拒絕決定
易于使用:用戶只需接受簡單培訓(xùn)
可選的小光斑準(zhǔn)直器(直徑3毫米):通過將其與周圍材料隔離,精確檢測小特征
集成攝像頭:清楚看到您檢測的下面
強(qiáng)大的數(shù)據(jù)管理:將結(jié)果存儲在分析儀上、將報告導(dǎo)出到U盤,或使用我們的應(yīng)用程序和云服務(wù)實時管理您的數(shù)據(jù)
手持式XRF光譜儀應(yīng)用于鍍層測厚
金屬涂層在許多行業(yè)中被使用,并被用于裝飾用途(如鏡面拋光、金色),以增強(qiáng)耐腐蝕性、提高可焊性、增加硬度、減少摩擦和磨損等等。
為確保所覆涂層的厚度足以賦予零件和部件其所需的性能,且不會因涂層過厚而浪費材料,電鍍公司需控制其工藝,并檢查最終產(chǎn)品是否符合規(guī)格。
基于X射線熒光(XRF)的涂層厚度測量是一種被廣泛接受和被業(yè)界認(rèn)可的分析技術(shù)。手持式XRF提供全面的多功能性:您可以將分析儀帶到需要測試的地方。
為什么選擇X-MET8000?
操作簡單:X-MET擁有“對準(zhǔn)—拍攝"的直觀用戶界面;幾乎不需要用戶培訓(xùn)
快速、非破壞性的分析:快速制定流程變更決定;被檢零件無刮痕或其他損壞;不浪費
多功能:分析涂層和未涂層零件以及電鍍液
檢測笨重和大型項目的理想之選
堅固耐用:IP54評級(密封防塵和防濺水),通過MIL-STD 810G檢測,堅固耐用,X-MET為在惡劣環(huán)境使用而設(shè)計
手持式XRF光譜儀應(yīng)用于考古
手持式X射線熒光(HHXRF)經(jīng)常被用于藝術(shù)和歷史文物的鑒定、保存和修復(fù)過程。這是一種非侵入式的技術(shù),可以在幾秒鐘內(nèi)識別油墨、顏料、陶瓷、青銅和其他合金,無需采樣或準(zhǔn)備測試品。分析可以顯示物品或部件的日期和/或出處,例如檢測釉中的特定顏料,識別僅在特定時期被使用的瓷器 。手持式XRF分析還可以通過檢查物體表面的元素組成,確定物體的哪一部分被修補(bǔ),并且可輕松發(fā)現(xiàn)差異。
為什么選擇X-MET8000?
性能:快速分析和低檢測限制,可靠識別微量元素
多用途:對各種材料進(jìn)行定性和定量分析;使用X-MET的標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn),或根據(jù)您的具體要求進(jìn)行創(chuàng)建
集成攝像頭:將X-MET精確定位在要檢測的物體上
可選的小光斑準(zhǔn)直器(直徑3毫米):將小的特征與周圍的材料分隔開,以獲得針點分析精度
多種輻射安全配件
手持式XRF光譜儀應(yīng)用于貴金屬和珠寶檢測
手持式X射線熒光(HHXRF)分析儀通常被用于檢測珠寶和其他貴金屬物品(如硬幣、銀器),以檢驗真?zhèn)尾⒋_定其價值。貴金屬(如金(Au)和鉑(Pt))的高價格意味著,成分的微小差別會產(chǎn)生巨大的產(chǎn)品價值差異。 HHXRF具有許多優(yōu)點:快速、無損(對被測物品無劃痕或損壞、不會造成材料損失),并可為大型和小型貴金屬物品提供多元素分析。
為什么選擇X-MET8000?
快速準(zhǔn)確:高分析吞吐量,使生產(chǎn)力和盈利能力更大化
多用途:分析有價金屬、雜質(zhì)和有毒元素(如鉛和鎘),以確定可能有害的物品
便攜:X-MET8000小巧輕便(含電池重量5工具),可隨時隨地被運輸和使用。燈架可被放入分析儀的運輸箱內(nèi)
易于使用:直觀的用戶界面;用戶只需接受簡單培訓(xùn)
可選的集成攝像頭和小光點準(zhǔn)直器:了解您正在檢測的內(nèi)容
比較型號
X射線管:40kV
濾光片:單一
檢測器:大面積 SDD
最高樣本溫度:400oC
符合 IP54 等級
Thick Kapton®窗口:保護(hù)以預(yù)防探測器的窗戶損壞
校準(zhǔn):基本參數(shù)法(FP)
內(nèi)置攝像頭 (可選)
X射線管:40kV or 50kV
濾光片:6位濾光轉(zhuǎn)換器
檢測器:大面積 SDD
最高樣本溫度:100oC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400oC(可選)
符合 IP54 等級
可選窗口防護(hù)罩:預(yù)防檢測器的窗口損壞進(jìn)行保護(hù)
校準(zhǔn):基本參數(shù)法 (包括輕元素分析)
內(nèi)置攝像頭(可選)
小光班準(zhǔn)直器(可選)
針對所有元素(從鎂到鈾)進(jìn)行優(yōu)先分析的六位濾光片
X射線管:50kV
濾光片:6位濾光轉(zhuǎn)換器
檢測器:大面積 SDD
最高樣本溫度:100oC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400oC(可選)
符合 IP54 等級
可選窗口防護(hù)罩:預(yù)防檢測器的窗口損壞進(jìn)行保護(hù)
校準(zhǔn)方法:自動跳轉(zhuǎn)的經(jīng)驗系數(shù)法(可進(jìn)行追溯)
內(nèi)置攝像頭
小光班準(zhǔn)直器 (可選)
針對所有元素,從鎂到鈾,的優(yōu)先分析的六位濾光片