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為什么選擇 X-MET 手持式 XRF 光譜儀
性能
X-MET提供輕元素 （鎂、鋁、硅、磷、硫、氯）分析，檢測限度低，且可每天提供準(zhǔn)確可靠結(jié)果。
通過靈活的基本參數(shù)法(FP)法進(jìn)行分析，從而測試多種材料；或若需結(jié)果可追溯和高度準(zhǔn)確，則使用實證校準(zhǔn)。
操作簡單
大觸摸屏和基于圖標(biāo)的用戶界面，使用戶只需要極少的培訓(xùn)便可開始操作。
符合人體工學(xué)
X-MET輕便（僅1.5公斤）、簡潔、平衡性好，可供長時間使用，而疲勞度低。
堅固耐用而擁有成本低
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符合IP54要求（等同于NEMA 3）、防水、防塵的X-MET可供室內(nèi)外使用。
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通過MIL-STD-810G 耐用標(biāo)準(zhǔn)測試。
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其可選的防扎窗口膜可預(yù)防在粗糙表面上測量導(dǎo)致探測器損壞而出現(xiàn)的高昂維修費用。
高級數(shù)據(jù)管理
*靈活：可將多達(dá)100,000條結(jié)果保存在X-MET上，將報告輸出到U盤或個人計算機(jī)，或自動將X-MET數(shù)據(jù)存儲在LiveData云端。
手持式 XRF 光譜儀應(yīng)用
| X-MET8000 | X-MET8000 | X-MET8000 | |
| 廢金屬回收 | ? | ? | ? |
| 材料可靠性鑒定(PMI)檢查 | ? | ? | |
| 制造與 PMI QA/QC | ? | ? | ? |
| 貴金屬 | ? | ? | ? |
| 監(jiān)管機(jī)構(gòu)合規(guī)篩查 （消費品、包裝、原材料…） | ? | ? | |
| 環(huán)境土壤篩查 | ? X-MET8000 Optimum Geo | ? X-MET8000 Expert Geo | |
| 礦石和礦物 | ? X-MET8000 Optimum Geo | ? X-MET8000 Expert Geo | |
| 金屬鍍層厚度測量 | ? | ? | ? X-MET8000 Expert / Expert CG |
| 科技考古 | ? | ? X-MET8000 Expert / Expert CG / Expert Geo |
手持式XRF光譜儀應(yīng)用于QA/QC
應(yīng)用于材料可靠性鑒定
應(yīng)用于廢舊金屬回收
應(yīng)用于采礦
應(yīng)用于土壤重金屬檢測
應(yīng)用于合規(guī)性檢測
應(yīng)用于鍍層測厚
應(yīng)用于考古
應(yīng)用于貴金屬和珠寶檢測
比較型號
X-MET8000 Smart
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X射線管：40kV
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濾光片：單一
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檢測器：大面積 SDD
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高樣本溫度：400ºC
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符合 IP54 等級
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Thick Kapton®窗口：保護(hù)以預(yù)防探測器的窗戶損壞
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校準(zhǔn)：基本參數(shù)法(FP)
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內(nèi)置攝像頭 （可選）
X-MET8000 Optimum
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X射線管：40kV or 50kV
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濾光片：6位濾光轉(zhuǎn)換器
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檢測器：大面積 SDD
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高樣本溫度：100ºC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400ºC（可選)
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符合 IP54 等級
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可選窗口防護(hù)罩：預(yù)防檢測器的窗口損壞進(jìn)行保護(hù)
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校準(zhǔn)：基本參數(shù)法 （包括輕元素分析）
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內(nèi)置攝像頭（可選）
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小光班準(zhǔn)直器（可選）
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針對所有元素（從鎂到鈾）進(jìn)行優(yōu)先分析的六位濾光片
X-MET8000 Expert
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X射線管：50kV
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濾光片：6位濾光轉(zhuǎn)換器
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檢測器：大面積 SDD
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高樣本溫度：100ºC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400ºC（可選)
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符合 IP54 等級
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可選窗口防護(hù)罩：預(yù)防檢測器的窗口損壞進(jìn)行保護(hù)
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校準(zhǔn)方法：自動跳轉(zhuǎn)的經(jīng)驗系數(shù)法（可進(jìn)行追溯）
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內(nèi)置攝像頭
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小光班準(zhǔn)直器 （可選)
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針對所有元素，從鎂到鈾，的優(yōu)先分析的六位濾光片
