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岱美儀器技術(shù)服務(wù)(上海)有限公司

  • GlassWafe缺陷檢查裝置 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:LODAS™ – BI12
    LODAS™ – BI12是列真株式會社推出的一款GlassWafe缺陷檢查裝置。
    型號: LODAS&tra... 品牌:LAZIN所在地:上海市 對比
    GlassWafe缺陷檢查裝置
    2024/11/9 15:00:061427
  • Photomask Blanks缺陷檢查裝置 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:LODAS™ – BI8
    LODAS™ – BI8是列真株式會社推出的一款Photomask Blanks缺陷檢查裝置。
    型號: LODAS&tra... 品牌:LAZIN所在地:上海市 對比
    Photomask Blanks缺陷檢查裝置
    2024/11/9 14:56:081679
  • Photomask Blanks缺陷檢查裝置 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:LODAS™ – AI50/100
    LODAS™ – AI50/100是列真株式會社推出的一款Photomask Blanks缺陷檢查裝置。
    型號: LODAS&tra... 品牌:LAZIN所在地:上海市 對比
    Photomask Blanks缺陷檢查裝置
    2024/11/9 14:54:301805
  • FR-Ultra 晶圓厚度測量系統(tǒng) 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    FR-Ultra是一種緊湊型設(shè)備,專門用于快速、準(zhǔn)確和無損測量半導(dǎo)體材料的厚/超厚層及透明層。
    型號: 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 14:52:431589
  • 自動化高速薄膜厚度測量儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150
    顯示器薄膜測量儀*的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件:分光計(jì)、復(fù)合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此,在準(zhǔn)確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
    型號: FR-Scanne... 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    顯示器薄膜測量自動高速薄膜厚度測量薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 14:43:501929
  • 光學(xué)粗糙度測試儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:WM 300
    光學(xué)粗糙度測試儀WaferMaster WM 300 不像傳統(tǒng)輪廓儀需要長時間的垂直高度掃描加上水平拼接以得到3D的表面輪廓進(jìn)行耗時粗糙度計(jì)算。利用角分辨光散射...
    型號: WM 300 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    WM 300光學(xué)粗糙度測試儀Optosurf
    2024/11/9 14:35:192243
  • 晶圓幾何形貌測量及參數(shù)自動檢測機(jī) 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:PLS-F1000
    晶圓幾何形貌測量及參數(shù)自動檢測機(jī)使用高精度高速光譜共焦雙探頭對射傳感器實(shí)現(xiàn)晶圓的非接觸式測量,結(jié)合高精度運(yùn)動模組及晶圓機(jī)械手可實(shí)現(xiàn)晶圓形貌的亞微米級精度的測量,...
    型號: PLS-F1000 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    PLS-F1000形貌測量參數(shù)自動檢測機(jī)
    2024/11/9 14:30:533730
  • 微波等離子清洗機(jī) 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:P03Q-6LS Plasma
    微波等離子清洗機(jī)專為微電子表面清潔與改性設(shè)計(jì),用于改善引線鍵合和芯片鍵合結(jié)合力,倒裝芯片填充不足等封裝制程,可用于處理各種電子材料,包括塑料、金屬或者玻璃等。
    型號: P03Q-6LS ... 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    微波等離子清洗微波等離子清洗機(jī)
    2024/11/26 17:10:303265
  • 微流控缺陷檢測 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:Nanotronics nSpec Macro
    微流控缺陷檢測 Nanotronics nSpec Macro可以照亮樣品的整個面,或設(shè)置照明角度和/或離散照明矢量。 明場,暗場,正交和可配置的傾斜照明角度與...
    型號: Nanotroni... 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    微流控缺陷檢測
    2024/11/9 14:22:118319
  • 薄膜電阻測量儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:Delcom 20J3 STAGE
    薄膜電阻測試用戶可以直接在材料上繪制網(wǎng)格圖形,或者將材料放入一個塑料信封并在信封上繪制網(wǎng)格圖形。然后用戶根據(jù)這些網(wǎng)格線遞增材料。
    型號: Delcom 20... 品牌:DELCOM所在地:上海市 對比
    薄膜電阻測試方塊電阻薄膜電阻測量
    2024/11/26 17:30:202806
  • 晶圓缺陷檢測光學(xué)系統(tǒng) 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:Nanotronics nSpec LS
    Nanotronics nSpec LS晶圓缺陷檢測光學(xué)系統(tǒng)是研發(fā)和過程開發(fā)的理想系統(tǒng)。它按順序運(yùn)行多個掃描。友好的用戶界面軟件使配置配方變得毫不費(fèi)力。而且,隨...
    型號: Nanotroni... 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    晶圓缺陷檢測光學(xué)系統(tǒng)晶圓缺陷檢測
    2024/11/9 14:14:143947
  • 電鏡隔振臺 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:Herz
    Herz電鏡隔振臺的性能非??煽?!遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過了 電鏡安裝所要求的振動值,使電鏡能夠獲取十分清晰的高質(zhì)量圖片!
    型號: Herz 品牌:所在地:上海市 對比
    電鏡隔振臺防震臺Herz防震臺防振臺
    2024/12/18 13:22:584722
  • 硅片厚度測量 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:Filmetrics F3-sX
    硅片厚度測量儀采用的是近紅外光(NIR)來測量膜層厚度,因此可以測試一些肉眼看是不透明的膜層( 比如半導(dǎo)體膜層) 。
    型號: Filmetric... 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    硅片厚度測量Filmetrics F3-sX薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀膜厚儀
    2025/1/16 10:05:373281
  • StrainScope Flex可調(diào)式實(shí)時應(yīng)力儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    StrainScope Flex可調(diào)式實(shí)時應(yīng)力儀 產(chǎn)品具有測量速度快、精度高、重復(fù)性好等特點(diǎn),對大尺寸樣品可拼接測量。其應(yīng)力測量設(shè)備用戶包括肖特、卡爾-蔡司、J...
    型號: 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    薄膜應(yīng)力儀薄膜應(yīng)力測試儀薄膜應(yīng)力測試儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:59:552805
  • 實(shí)時型StrainScope S3/S4 應(yīng)力儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    實(shí)時型StrainScope S3/S4 應(yīng)力儀 產(chǎn)品具有測量速度快、精度高、重復(fù)性好等特點(diǎn),對大尺寸樣品可拼接測量。其應(yīng)力測量設(shè)備用戶包括肖特、卡爾-蔡司、J...
    型號: 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    薄膜應(yīng)力儀薄膜應(yīng)力測試儀薄膜應(yīng)力測試儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:57:422802
  • 拼接型StrainMatic stepper應(yīng)力儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    拼接型StrainMatic stepper應(yīng)力儀 產(chǎn)品具有測量速度快、精度高、重復(fù)性好等特點(diǎn),對大尺寸樣品可拼接測量。其應(yīng)力測量設(shè)備用戶廣,用戶包括肖特、卡爾...
    型號: 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    薄膜應(yīng)力儀薄膜應(yīng)力測試儀薄膜應(yīng)力測試儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:56:052364
  • 高精度型StrainMatic M4薄膜應(yīng)力測試儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    德國ilis公司成立于1998年,專業(yè)研發(fā)制造高精度應(yīng)力雙折射分析軟件與測量設(shè)備,薄膜應(yīng)力測試儀采用成像式光彈原理,直接測量光延遲,可以快速給出高分辨率的高精度...
    型號: 品牌:所在地:上海市 對比
    薄膜應(yīng)力儀薄膜應(yīng)力測試儀薄膜應(yīng)力測試儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/26 17:12:045716
  • Filmetrics F3-sX半導(dǎo)體薄膜測量儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    Filmetrics F3-sX半導(dǎo)體薄膜測量儀可以測試眾多半導(dǎo)體及電解層的厚度,可測大厚度達(dá)3毫米。此類厚膜,相較于較薄膜層表面較粗糙且不均
    型號: 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/26 17:22:524031
  • Filmetrics F32薄膜厚度測量儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    Filmetrics F32薄膜厚度測量儀 使用F32可以簡單快速地在線測量膜厚。從對膜的頂部和底部反射光譜進(jìn)行分析可得到實(shí)時厚度信息。
    型號: 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:50:163275
  • Filmetrics F60高級光譜反射系統(tǒng) 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    Filmetrics F60薄膜厚度測量儀 電動R-Theta平臺自動移動到選定的測量點(diǎn),并在幾秒鐘內(nèi)提供厚度測量。 選擇數(shù)十種預(yù)定義的極坐標(biāo),矩形或線性地圖...
    型號: 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:48:262290
  • Filmetrics F40薄膜厚度測量儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    Filmetrics F40薄膜厚度測量儀 產(chǎn)品能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點(diǎn)以每秒測繪兩個點(diǎn)的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)45...
    型號: 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:46:332629
  • Filmetrics F54薄膜厚度測量儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    Filmetrics F54薄膜厚度測量儀能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點(diǎn)以每秒測繪兩個點(diǎn)的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)450毫米
    型號: 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/26 17:19:074047
  • Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀 僅需要透過單擊滑鼠就能夠同時收集反射與透射光譜,不到一秒鐘的時間,陣列的光譜儀就可以快速的收集到資料。
    型號: 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:43:012631
  • F2-RT 光譜反射和透射測量系統(tǒng) 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    F2-RT 光譜反射和透射測量系統(tǒng)是美國Filmetrics新推出的物超所值同時測量反射率和透射率的儀器。
    型號: 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀折射率測量儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:41:002566

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