Thetametrisis便攜式光學(xué)膜厚儀FR-prtable是一款*的USB便攜式測(cè)量儀器，可對(duì)透明和半透明的單層或多層堆疊薄膜進(jìn)行準(zhǔn)確的無損（非接觸式）表征。

使用FR-prtable，用戶可以在380-1020nm光譜范圍內(nèi)進(jìn)行反射率和透射率測(cè)量。

Thetametrisis膜厚儀FR-prtable的緊湊尺寸以及定制設(shè)計(jì)的反射探頭以及寬帶長壽命光源確保了高精度和可重復(fù)的便攜式測(cè)量。

FR-Prtable既可以安裝在提供的載物臺(tái)上，也可以輕松轉(zhuǎn)換為手持式厚度測(cè)量工具。放置在待表征的樣品上方即可進(jìn)行測(cè)量。

FR-Prtable是用于工業(yè)環(huán)境（如R2R、帶式輸送機(jī)等）中涂層實(shí)時(shí)表征的可靠而準(zhǔn)確的測(cè)厚儀。

FR-prtable是適用于現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用的一款光學(xué)表征工具。

應(yīng)用領(lǐng)域：

1.大學(xué)&科研院所

2.半導(dǎo)體（氧化物、氮化物、硅、電阻等）

3.MEMS元器件(光刻膠、硅薄膜等)

4.LED

5.數(shù)據(jù)存儲(chǔ)元件

6.彎曲基材（襯底）上的硬/軟涂層

7.聚合物涂層、粘合劑等

8.生物醫(yī)學(xué)（parylene——派瑞林,氣泡壁厚,等等)

9.其他更多…

Thetametrisis便攜式光學(xué)膜厚儀產(chǎn)品特點(diǎn)：

1、一鍵分析(無需初始化操作)動(dòng)態(tài)測(cè)量

2、測(cè)量光學(xué)參數(shù)(n&k,顏色)自動(dòng)保存演示視頻

3、可測(cè)量600多種不同材料用于離線分析的多個(gè)設(shè)置免費(fèi)軟件更新服務(wù)

ThetametrisisUSB膜厚儀技術(shù)參數(shù)：

硬件配置：

1、現(xiàn)場(chǎng)適配器：根據(jù)測(cè)量現(xiàn)場(chǎng)需求

2、透射率模塊：用于測(cè)量涂層的透射率和吸收率光譜，涂層厚度等

3、手動(dòng)X-Y平臺(tái)：用于在多個(gè)位置對(duì)涂層進(jìn)行表征（手動(dòng)移動(dòng)）

工作原理：

白光反射光譜（WLRS）測(cè)量方法是在一定波長范圍內(nèi)，分析垂直于樣品表面的入射光和從單層或多層堆疊薄膜反射的反射光譜的分析方法。

由界面&表面產(chǎn)生的反射光譜被用于確定獨(dú)立和附著于基底（在透明或部分/全反射基底上）的堆疊膜層的厚度、光學(xué)常數(shù)（n&k）等。

*規(guī)格如有更改，恕不另行通知,：2測(cè)量結(jié)果與校準(zhǔn)的光譜橢偏儀和XRD相比較,3連續(xù)15天測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)方差平均值.樣品：1umSi2nSi.,4100次厚度測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)方差，樣品：1umSi2nSi.,,52*超過15天的標(biāo)準(zhǔn)偏差日平均值樣品：1umSi2nSi.

(如有需求，請(qǐng)與我們聯(lián)系，點(diǎn)擊下圖可以了解更多關(guān)于Thetametrisis膜厚儀的產(chǎn)品信息)