產(chǎn)品簡介
Micro Pioneer XRF-2000系列熒光X射線金屬鍍層測厚儀可用于測量一般工件、PCB及五金、半導(dǎo)體等產(chǎn)品的各種金屬鍍層的厚度。其特點為:雷射自動對焦、全自動XYZ樣片臺、Point and Shoot 自動對位、具溫度補償功能、十字線自動調(diào)整、具有競爭力的價格、五個準(zhǔn)直器(0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm)。是非破壞性器的*機型。
詳細介紹
X光無損非接觸測量,只需10-30秒即可獲得測量數(shù)據(jù),zui小測量面積為直徑0.1mm圓面積,測量范圍:0-35um,測量誤差:5%以內(nèi)。