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XRF-2000測(cè)厚儀價(jià)格Micro Pioneer XRF-2000系列熒光X射線(xiàn)金屬鍍層測(cè)厚儀可用于測(cè)量一般工件、PCB及五金、半導(dǎo)體等產(chǎn)品的各種金屬鍍層的厚度。只需要10-30秒即可獲得測(cè)量結(jié)果, Z小測(cè)量面積為直徑為0.1mm的圓面積; 測(cè)量范圍：0-35um;
可測(cè)量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度
可通過(guò)CCD攝像機(jī)來(lái)觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測(cè)量
產(chǎn)品分類(lèi)品牌分類(lèi)
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X光測(cè)厚儀 X射線(xiàn)無(wú)損測(cè)厚儀 X射線(xiàn)金屬鍍層測(cè)厚儀 XRF測(cè)厚儀 X熒光金屬鍍層測(cè)厚儀 X射線(xiàn)電鍍層測(cè)厚儀 韓國(guó)膜厚儀 東莞膜厚儀 深圳膜厚儀 測(cè)金機(jī) 鍍膜測(cè)厚儀 金屬鍍層測(cè)厚儀 鍍層厚度測(cè)量?jī)x 韓國(guó)X光機(jī) 韓國(guó)先鋒測(cè)厚儀 二手測(cè)厚儀 鍍層膜厚測(cè)量?jī)x X射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀 XRF-2000 韓國(guó)測(cè)厚儀 測(cè)金儀 測(cè)厚儀 膜厚儀 X光機(jī)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
XRF-2000測(cè)厚儀價(jià)格的特征
- 可測(cè)量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度
- 可通過(guò)CCD攝像機(jī)來(lái)觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測(cè)量，避免直接接觸或破壞被測(cè)物。
- 薄膜FP法軟件是標(biāo)準(zhǔn)配置，可同時(shí)對(duì)多層鍍層及合金鍍層厚度和成分進(jìn)行測(cè)量。此外，也適用于無(wú)鉛焊錫的應(yīng)用。
- 備有250種以上的鍍層厚度測(cè)量和成分分析時(shí)所需的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
XRF-2000測(cè)厚儀價(jià)格測(cè)量原理
物質(zhì)經(jīng)X射線(xiàn)或粒子射線(xiàn)照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來(lái)，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來(lái)。熒光X射線(xiàn)鍍層厚度測(cè)量?jī)x或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來(lái)的熒光的能量及強(qiáng)度，來(lái)進(jìn)行定性和定量分析。
- 儀器系統(tǒng)結(jié)構(gòu)
- 測(cè)量部分的結(jié)構(gòu)
用于照射（激發(fā)）的X射線(xiàn)是采用由上往下照射方式，用準(zhǔn)直器來(lái)確定X射線(xiàn)的光束大小。
樣品的觀察是利用與照射用的X射線(xiàn)同軸的CCD攝像機(jī)所攝制的圖像來(lái)確定想要測(cè)量的樣品位置。標(biāo)準(zhǔn)配備了多種尺寸的準(zhǔn)直器可根據(jù)需要調(diào)整照射X射線(xiàn)的光束大小來(lái)決定測(cè)量面積，zui小可測(cè)量面積是40umф。
- X射線(xiàn)操作部分（X-ray station）
Excel和Word是標(biāo)準(zhǔn)配置，利用這些軟件，我們可以簡(jiǎn)單快速地進(jìn)行測(cè)量數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)處理及測(cè)量結(jié)果報(bào)告書(shū)的編輯和打印。