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濟南蘭光機電技術有限公司

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Labthink | CHY-C2A薄膜測厚儀 產(chǎn)品介紹

閱讀:989      發(fā)布時間:2021-4-26
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Labthink | CHY-C2A薄膜測厚儀 產(chǎn)品介紹

 

Labthink | CHY-C2A薄膜測厚儀

 

CHY-C2A薄膜測厚儀采用機械接觸式測量方式,嚴格符合標準要求,有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

技術特征:
嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力,同時支持各種非標定制
測試過程中測量頭自動升降,有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
支持自動和手動兩種測量模式,方便用戶自由選擇
實時顯示測量結(jié)果的最大值、最小值、平均值以及標準偏差等分析數(shù)據(jù),方便用戶進行判斷
配置標準量塊用于系統(tǒng)標定,保證測試的精度和數(shù)據(jù)一致性
系統(tǒng)支持數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印等許多實用功能,方便快捷地獲取測試結(jié)果
系統(tǒng)由微電腦控制,搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板,方便用戶進行試驗操作和數(shù)據(jù)查看
標準的RS232接口,便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸
支持LystemTM實驗室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng),統(tǒng)一管理試驗結(jié)果和試驗報告

執(zhí)行標準:
ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817

技術指標:
負荷量程:0~2 mm(常規(guī));0~6 mm;12 mm(可選)
分辨率:0.1μm
測量速度:10 次/min(可調(diào))
測量壓力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(紙張)
接觸面積:50 mm2(薄膜);200 mm2(紙張)
注:薄膜、紙張任選一種;非標可定制
電源:220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz
外形尺寸:461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)
凈重:32kg

儀器配置:
標準配置:主機、標準量塊一件
選購件:專業(yè)軟件、通信電纜、測量頭、配重砝碼、微型打印機

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