產(chǎn)品分類品牌分類
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超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊 著色滲透探傷劑/顯像劑/滲透劑/清洗劑 磁粉檢測(cè)試塊/磁粉探傷試塊 磁粉探傷耗材 多用磁粉探傷儀 移動(dòng)式磁粉探傷儀 磁粉磁軛探傷儀/磁探儀 X射線報(bào)警儀/個(gè)人計(jì)量?jī)x 暗室紅燈/三色燈/警告燈 超聲波探傷儀/測(cè)厚儀 退磁機(jī)/線圈退磁器 冷熱觀片燈/工業(yè)評(píng)片燈 強(qiáng)度計(jì)/特斯拉計(jì)/高斯計(jì) 數(shù)顯黑白密度計(jì)/密度片 超聲波探傷耗材 射線探傷耗材 磁粉、磁膏、磁懸液 熒光探傷燈 高強(qiáng)度紫外線燈 紫外線黑光燈/LED黑光燈/熒光探傷燈 工業(yè)X光膠片 JB行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)試塊 焊縫自然缺陷試塊 CSK-IA超聲波試塊 超聲波檢測(cè)試塊 *標(biāo)準(zhǔn)試塊與其他*標(biāo)準(zhǔn)試塊 工業(yè)恒溫洗片機(jī)、干片機(jī) 進(jìn)口 超聲波耦合劑 其它
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
T1.T2.T3試塊,有稱對(duì)比試塊
T1試塊
對(duì)比試塊應(yīng)采用與被檢測(cè)工件材質(zhì)相同或聲學(xué)特性相近的材料,并采用相同的焊接工藝制成。其母材、熔合面和堆焊層中均不得有或等于Φ2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷存在。試塊堆焊層表面的形態(tài)和工作堆焊層的表面形態(tài)相同。
從堆焊層側(cè)進(jìn)行檢測(cè)采用T1型試塊,母材厚度T至少應(yīng)為堆焊層厚度的2倍。
T2試塊
從母材側(cè)進(jìn)行檢測(cè)采用T2型試塊,母材厚度T與被測(cè)基板的厚度差不得超過(guò)10%。如果工件厚度比較大,T2試塊的長(zhǎng)度L應(yīng)能滿足檢測(cè)要求。
T3試塊
用于雙晶直探頭、單晶直探頭凌密度的校準(zhǔn)。
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