美國Megger (AVO) MIT1020/2 10KV絕緣電阻測試儀(高壓兆歐表)
測試電壓：50V~10000V
測試電壓在50V-1000V的范圍里以10V步進(jìn)遞增，1KV-10KV的范圍里以25V步進(jìn)遞增
MIT1020/2美國Megger （AVO）絕緣電阻測試儀MIT1020/2
測試電壓：50V~10000V
測試電壓在50V-1000V的范圍里以10V步進(jìn)遞增，1KV-10KV的范圍里以25V步進(jìn)遞增
測試電阻（阻抗）顯示zui大讀數(shù)35TΩ，顯示zui小讀數(shù)10KΩ
短路電流：3mA
實時輸出：能連續(xù)不斷的輸出測試電壓，電流和阻抗
| 美國Megger （AVO）絕緣電阻測試儀MIT1020/2的詳紹 |
| 美國Megger （AVO） MIT1020/2 10KV絕緣電阻測試儀（高壓兆歐表） ▲全新的MIT1020/2絕緣電阻測試儀是MEGGER特別設(shè)計, 用來測試和維護(hù)高壓設(shè)備的*儀器。 ▲IEEE43-2000推薦使用者可以使用MIT1020/2來測試額定超過12KV的電動機(jī)的繞組。 ▲雙路電源輸入設(shè)計：可充電電池或主電源輸入。儀器可由220V電源供電，也可以由儀器內(nèi)置可以充電電池供電。這樣有一個好處就是要測試的場所不清楚是否有電源或者測試周期不清楚的時候，都可以來進(jìn)行測試。 ▲數(shù)字/模擬雙顯示測試結(jié)果 ▲測試電壓由50V 至10KV 可調(diào) 測試電壓在50V-1000V 的范圍里以10V（步進(jìn)）微調(diào)，1000V-10000V的范圍里以25V（步進(jìn)）微調(diào)。 ▲絕緣電阻測量測試范圍擴(kuò)展為35TΩ,用于對高質(zhì)量絕緣材料的絕緣趨勢分析等。 ▲短路電流：3mA ▲抗干擾：2mA rms ▲全新設(shè)計的背光LCD顯示屏使操作者在陽光下或者光線很暗的情況下輕松讀出數(shù)據(jù)。 ▲絕緣電阻測試儀顯示的信息：絕緣阻值，實時測試電壓，泄漏電流，等效電容，電池狀態(tài)和時間常數(shù)。同時，每次測試時LCD上還會顯示已測試時間，這就不需要在測試時額外計時。 ▲絕緣電阻測試儀內(nèi)置了多個計時器，還具備絕緣測試設(shè)限告警功能。 ▲儀器上還帶有一個接地端子，使儀器能提高其精確性。 ▲儀器的標(biāo)號分別標(biāo)在儀器的頂部和旁邊，方便儲存或者運輸?shù)臅r候辨認(rèn)。 ▲儀器的控制的操作都清楚的寫在儀器隨機(jī)器附帶的說明書里面。 MIT1020/2美國Megger （AVO）絕緣電阻測試儀MIT1020/2產(chǎn)品功能： 內(nèi)置多種自動測試程序： ▲IR 絕緣電阻測試、 ▲DAR 吸收比測試 （介電吸收率）、 ▲PI 極化指數(shù)測試、 ▲SV 步進(jìn)電壓（跨步電壓）測試 ▲DD 測試 （介質(zhì)放電）） ▲測試上限擴(kuò)展：35TΩ ▲提供USB與RS232接口下載數(shù)據(jù) ▲儀器內(nèi)置32KB存儲器可保存測試結(jié)果:存儲測試電壓，預(yù)設(shè)時間，泄漏電流，絕緣電阻，極化指數(shù)，DAR，DD，等效電容，時間常數(shù)。 產(chǎn)品技術(shù)指標(biāo)： | 電源 | 95-240V，50/60 Hz 60VA | | 電池使用時間 | 在 10KV 狀態(tài)下，進(jìn)行4小時連續(xù)測試 | | 測試電壓（DC） | 1KV-10KV，每 25V 步進(jìn) | | 精度 | ± 5% 1 TΩ | | （23°C） | ± 20% 20 TΩ | | 顯示范圍 | 數(shù)字顯示 10 KΩ 到 35 TΩ | | 模擬顯示 100 KΩ 到 1 TΩ | | 短路電流/ | 3mA | | 充電電流 | | 電容充電時間 | ≤5秒/µF @ 3mA | | 電容放電時間 | 放電從 10000V 到 | | 50V ≤250 ms/µF | | 電容測量 | 10nF 到 50µF（取決于測量電壓） | | 電容測量精度 | ± 5% ± 5nF | | （23°C） | | 電壓輸出精度 | 基本測試電壓的 +4% @ 1GΩ | | （0°C-30°C） | ±25V非標(biāo)測試電壓（<500V） | | 測試電流范圍 | 0.01mA to 5mA | | 測量電流精度 | ± 5% ± 0.2mA @ 各種電壓量程 | | （23°C） | | 抗干擾 | 2mA rms | | 主計時器量程 | 99分鐘59秒 | | 導(dǎo)線 | 3條測試導(dǎo)線，帶絕緣夾頭 | | 內(nèi)存容量 | 32KB | | 內(nèi)置測試程序 | 自動IR，PI，DAR，DD，SV | | 數(shù)據(jù)存儲 | 存儲測試電壓，預(yù)設(shè)時間，泄漏電流，絕緣電阻，極化指數(shù)，DAR，DD，等效電容，時間常數(shù) | | 工作溫度 | -10°C-+50°C | | 儲存溫度 | -25℃- +65℃ | | 濕度 | 90% RH非凝固@40℃ | | 保護(hù)等級 | IP65 | | 安全標(biāo)準(zhǔn) | 符合EN61010- 1：2001 CATIII 300V | | EMC | 符合EN61326-1：1998 | | 外形尺寸 | 305mm ×194 mm ×360 mm | | 重量 | 約7．1公斤 | | 產(chǎn)品持有證書 | CE | | 絕緣電阻測試儀測試指標(biāo)名詞解釋 | | | （PI） | 極化指數(shù)測試 | | | 極化指數(shù)：在同一次試驗中，10min時的絕緣電阻值與1min時的絕緣電阻值之比。 | | | | | （DAR） | 感應(yīng)吸收比（誘電吸收比）測試 | | | 吸收比：在同一次試驗中，60s時的絕緣電阻值與15s時的絕緣電阻值之比。 | | | | | | | （SV） | 步進(jìn)電壓測試 | | | （DD） | 介質(zhì)放電（誘電體放電） | | | 絕緣電阻,吸收比,極化指數(shù)之間的關(guān)系
當(dāng)說吸收比時，應(yīng)該說到絕緣電阻極化指數(shù)。
絕緣電阻：在絕緣結(jié)構(gòu)的兩個電極之間施加的直流電壓值與流經(jīng)該對電極的泄漏電流值之比。R=U/I，常用單位：（MΩ）兆歐 | 10KV系列絕緣電阻測試儀選型及功能對照表 | 產(chǎn)品型號 | MIT1020/2 | S1-1052/2 | S1-1054/2 | | 絕緣電壓測試范圍 | | | | | 50~10,000V（可步進(jìn)調(diào)節(jié)） | ▲ | ▲ | ▲ | | 絕緣測試 | | | | | 絕緣電阻測試顯示范圍（zui大顯示數(shù)字讀數(shù)） | 35 T Ω | 35 T Ω | 35 T Ω | | 絕緣電阻測試顯示范圍（zui小顯示數(shù)字讀數(shù)） | 10 k Ω | 10 k Ω | 10 k Ω | | 絕緣電阻測試顯示范圍（zui大顯示模擬讀數(shù)） | 1 T Ω | 1 T Ω | 1 T Ω | | 絕緣電阻測試顯示范圍（zui小顯示模擬讀數(shù)） | 100 k Ω | 100 k Ω | 100 k Ω | | 功能 | | | | | zui大輸出電流 | 5mA | 5mA | 5mA | | 短路電流 | 3mA | 5mA | 5mA | | 抗干擾抑制 | 2mA | 2mA | 4mA | | 自動進(jìn)行試品IR泄漏電流測試 | ▲ | ▲ | ▲ | | 自動測量絕緣電阻 | ▲ | ▲ | ▲ | DAR吸收比測試（介電吸收率）
| ▲ | ▲ | ▲ | PI 極化指數(shù)測試
| ▲ | ▲ | ▲ | SV 步進(jìn)電壓（跨步電壓）測試
| ▲ | ▲ | ▲ | DD 測試 （介質(zhì)放電）測量
| ▲ | ▲ | ▲ | | 內(nèi)置定時器器 | ▲ | ▲ | ▲ | | 內(nèi)置32KB存儲器 | ▲ | ▲ | ▲ | | 顯示 | | | | | 數(shù)字和模擬雙重顯示 | ▲ | ▲ | ▲ | | 顯示測試電壓 | ▲ | ▲ | ▲ | | 顯示試品充電時間 | ▲ | ▲ | ▲ | | 顯示充電電流 | ▲ | ▲ | ▲ | 顯示時間
| ▲ | ▲ | ▲ | ▲絕緣電阻測試儀內(nèi)置五種可設(shè)置工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)絕緣測試程序，可實現(xiàn)全自動測試，提供全部分析結(jié)果：
▲絕緣電阻測試儀外殼由硬塑聚炳烯制造，由于在生產(chǎn)過程中經(jīng)過特殊處理，因此特別堅固耐用，而且輕巧便于攜帶，符合IP65標(biāo)準(zhǔn)。 （替代S1-5005、MEG-10-01） 產(chǎn)品特點： |
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