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貨物所在地：廣東深圳市
更新時(shí)間：2024-08-19 15:19:02
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X射線電鍍膜厚分析儀
【詳細(xì)說明】
熒光X射線鍍層測(cè)厚儀，有著非破壞，非接觸，快速無損測(cè)量，多層合金測(cè)量，生產(chǎn)力，再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)的情況下進(jìn)行表面鍍層厚度的測(cè)量，從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應(yīng)用。
可測(cè)元素范圍：
鈦() – 鈾(U)
可測(cè)量厚度范圍：
原子序22-25，0.1-0.8μm
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
X-射線管：油冷,超微細(xì)對(duì)焦
壓：0-50KV(程控)
主要特點(diǎn)
測(cè)量范圍寬，可檢測(cè)元素范圍；
可同時(shí)測(cè)定5層/15種元素/共存元素較正；
精度、穩(wěn)定性好；
強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、處理功能；
標(biāo)準(zhǔn)片；
的系統(tǒng)安全性
簡(jiǎn)單用戶界面只向日常操作員設(shè)定有限的*
Ø主管人員可進(jìn)行系統(tǒng)維護(hù)
Ø系統(tǒng)自動(dòng)生成操作員的使用記錄
Ø自動(dòng)鎖定功能防止未*的操作
ØZ軸保護(hù)傳感器
Ø安全防射線光閘
Ø樣品室門開閉傳感器
ØX射線鎖
ØX射線警示燈
Ø緊急停止按鈕
Ø前面板安全鈕和后面板安全鎖
綜合性能:鍍層分析
鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對(duì)比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對(duì)比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.
統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y(cè)量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便有效的控制品質(zhì).
X射線電鍍膜厚分析儀
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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