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貨物所在地:廣東深圳市
更新時(shí)間:2025-02-20 09:25:19
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鍍層測(cè)厚儀器
Cube系列技術(shù)參數(shù)
一、技術(shù)參數(shù)
采用X射線熒光光譜法無損測(cè)量金屬鍍層、覆蓋層厚度,測(cè)量方法滿足GB/T 16921-2005標(biāo)準(zhǔn)(等同ISO3497:2000、 ASTM B568和DIN50987)
包含常見的金Au、鎳Ni、銅Cu、銀Ag、錫Sn、鋅Zn、鉻Cr、鈀Pd等
20、自動(dòng)測(cè)量功能:編程測(cè)量,自定測(cè)量;
修正測(cè)量功能:底材修正,已知樣品修正
定性分析功能:光譜表示,光譜比較;
定量分析功能:合金成份分析
數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能:x管理圖,x-R管理圖,直方柱圖。
二、特點(diǎn)
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對(duì)比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對(duì)比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.
統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y(cè)量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便有效的控制品質(zhì).
售后服務(wù)
鍍層測(cè)厚儀器
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