1、 二次靶技術: 二次靶技術：如圖所示：圖1a是從X光管出射的原級X射線。圖1b是使用濾光片的出射譜。圖1c為二次靶出射譜，很明顯二次靶技術使散射背景很弱，而弱的散射背景使得樣品出射譜的散射背景強度很低。 2、空間三維立體光路：根據偏振光的特性安排的空間立體光路。我們讓原級X射線以45°入射角入射到二次靶上，二次靶上出射的散射 （反射）線再以45°角入射到樣品。這樣的空間三維立體光路起到一個除去二次靶材散射背景的作用，使散射背景大大降低。 3、Ux-800P應用了精心設計的濾光片，基本做到單色激發(fā)。 4、管壓X光管，結合偏振二次靶的作用，使Cd、Sb、等元素的檢出限大大降低。 譜圖對比：圖2和圖3分別為傳統(tǒng)EDXRF儀器和Ux-800P測塑膠樣品的譜圖的對比。從圖2圖3中不難看出，與傳統(tǒng)的EDXRF Ux-220相比，Ux-800P的散射背景明顯降低，各個待測有害元素特征峰的峰背比都有了顯著的改善，尤其以Cd和Cr為明顯。 圖2.傳統(tǒng)EDXRF檢測歐盟PE標樣譜圖 鋼材元素含量分析機器 P3：解決產業(yè)六大難題： 1、解決溴中的Pb、Hg檢測，檢測均下限低于20ppm，從圖4可以看出，即使20ppm的Pb，也能可靠穩(wěn)定的檢測出來，并且線性相當不錯。 圖4.Ux-800P含檢測10%Br的PE樣品 2、 解決錫中的Cd檢測，檢測下限低于20ppm，圖5是 環(huán)保焊錫中200ppm以下Cd的檢測，使用傳統(tǒng)的EDXRF幾乎是不可能的，但采用Ux-800P，可以對焊錫中的20ppm的Cd進行穩(wěn)定可靠的檢測，*可以滿足RoHS要求。 圖5.是 環(huán)保焊錫中200ppm以下Cd的檢測 3、能對含Pb同時含As的樣品進行準確檢測，如圖6 Ux-800P經過合適的配置，可以準確地檢測As的含量，進而可以準確計算Pb的含量。 圖6. Ux-800P檢測含Pb同時含As的樣品 4、 應對玩具指令中的八大重金屬進行精度檢測，檢測下限均達到10ppm（如圖7） 圖7. Ux-800P測試玩具八大重金屬譜圖 5、能對含有含量Bi樣品中的Pb進行準確檢測； 6、能對含有很的的樣品中的Cl進行準確檢測； 以上幾種是目前傳統(tǒng)XRF儀器無法解決的難題，Ux-800P*解決了。而UX-800P功能遠不止這些，它能廣泛地應對各種環(huán)保指令包括RoHS、EN71、ASTM-F963、Reach等等。 | 
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