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分析雷達物位計的測量原理和注意事項
閱讀：1239 發(fā)布時間：2019-6-18
雷達物位計采用微波脈沖的測量方法，并可在工業(yè)頻率波段范圍內(nèi)正常，波束能量低，可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內(nèi)，對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續(xù)測量。適用于粉塵、溫度、壓力變化大，有惰性氣體及蒸汽存在的場合。雷達物位計對人體及環(huán)境均無傷害，還具有不受介質比重的影響，不受介電常數(shù)變化的影響，不需要現(xiàn)場校調(diào)等優(yōu)點，不論是對工業(yè)需要，還是對顧客經(jīng)濟實惠的考慮，都是不錯的選擇。
雷達物位計的測量原理：
調(diào)頻連續(xù)波雷達物位計在測量過程中應用了按照線性變化的高頻信號，雷達物位計的信號從天線發(fā)出，在被測量平面反射，回波被天線接收。雷達物位計信號的發(fā)出與回波接收的頻率差被用于進一步的信號處理，頻率差對應于測量距離。一個大的頻率差應對于一個較大的測量距離。通過FFT頻率差被轉化為頻譜差，進而換算出測量距離。物位與測量距離的差別取決于空罐的高度。
發(fā)射能量很低的極短的微波脈沖通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收。
即使工況比較復雜的情況下，存在虛假回波，用醉新的微處理技術和調(diào)試軟件也可以準確的分析出物位的回波。輸入天線接收反射的微波脈沖并將其傳輸給電子線路:
D=C×T/2
其中C為光速
因空罐的距離E已知，則物位L為:
L=E-D
輸出
通過輸入空罐高度E(=零點)，滿罐高度F(=滿量程)及一些應用參數(shù)來設定，應用參數(shù)將
自動使儀表適應測量環(huán)境。
對應于4-20mA輸出。
雷達物位計的注意事項：
測量范圍從波束觸及罐低的那一點開始計算，但在特殊情況下，若罐低為凹型或錐形，當物位低于此點時無法進行測量。
若介質為低介電常數(shù)當其處于低液位時，罐低可見，此時為保證測量精度，建議將零點定在低高度為C的位置。
理論上測量達到天線的位置是可能的，但是考慮到腐蝕及粘附的影響，測量范圍的終值應距離天線的至少100mm。
對于過溢保護，可定義一段安全距離附加在盲區(qū)上。
醉小測量范圍與天線有關。
隨濃度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以將其反射，但在一定的條件下是可以進行測量的。