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ZH420便攜式電阻率測試儀/方阻測試儀（成套） GDSKDT-1 B探頭 型號：ZH420
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具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)- ZH420 產(chǎn)品型號
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訪問次數(shù)：1027更新時間：2024-11-28 11:06:37
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產(chǎn)品簡介
2、測量厚度大于4倍探針間距的硅晶體，也可測量薄硅片電阻率及方阻。
3、電阻率測量范圍復(fù)蓋Z常用的區(qū)段：0.01—199.9Ω·cm 。
產(chǎn)品介紹
| 便攜式電阻率測試儀/方阻測試儀（成套） GDSKDT-1 B探頭 型號：ZH420 | 貨號：ZH420 |
| 產(chǎn)品簡介 1、半導(dǎo)體材料電阻率的及標(biāo)準(zhǔn)測試方法。樹脂動態(tài)粘度計 2、測量厚度大于4倍探針間距的硅晶體，也可測量薄硅片電阻率及方阻。 3、電阻率測量范圍復(fù)蓋zui常用的區(qū)段：0.01—199.9Ω·cm 。 方塊電阻測量范圍復(fù)蓋zui常用的區(qū)段：0.1—1999Ω/□。 4、配置高精度恒流源，測量電流穩(wěn)定，分兩檔：1mA、10mA，每檔在大范圍內(nèi)調(diào)節(jié)（1mA：0.1—1mA；10mA：1mA—10mA）。 5、測量精度高：電器定性測試紙測量精度優(yōu)于0.3%； 整機測量誤差：測量1-100Ω·cm的標(biāo)準(zhǔn)硅片誤差≤±3%。 測量大于100Ω·cm和小于1Ω·cm的標(biāo)準(zhǔn)硅片誤差≤±5%。 6、重量輕，約2.5kg；體積?。?40×210×100（mm）。 7、可配用多種探針間距的四探針頭：1.00mm、1.59mm。 www.centrwin.com |  |
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