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XPE分析天平采用*的設計，將稱重傳感器和電子元件安裝在天平的背部。 您可獲得的利益：不受散熱影響且易于清潔，因此可獲得更好的稱量性能。 獲得的設計具備以下關鍵特征：

• SmartGrid技術能夠以zui快速、清潔的方式完成稱量任務

• 內部溫度控制(ITC)裝置無需單獨或外部電子元件即可確保獲得zui小稱量值。

• proFACT 高級版本確保準確性和溫度穩(wěn)定性并符合內部測試規(guī)定

良好的稱量規(guī)范

新型XSE和XPE分析天平依照GWP研發(fā)而成。 梅特勒-托利多開發(fā)出GWP(Good Weighing Practice)，作為安全選擇、校準和操作稱重設備的標準化科學方法。GWP提供的可再現(xiàn)性稱重結果書面憑證符合當前所有實驗室和制造業(yè)的質量標準。 關注穩(wěn)定的過程、*的產(chǎn)品質量、精益制造或遵守法規(guī)的用戶可使用GWP作為選擇和校準其稱重設備的基準。

清潔、安全

• SmartGrid網(wǎng)格稱盤：所有溢出的樣品都可通過秤盤落下，而不會影響您的稱量結果，下方的滴盤可輕松地捕獲溢漏的任何固體和液體，以便安全處理。

• 防風罩：zui大限度降低樣品污染風險：防風罩和滴盤無需工具即可在數(shù)秒鐘內*拆卸。

• 可在洗碗機中安全清洗：所有部件均可在洗碗機中方便、*地清潔。

技術參數(shù)