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I試片
定量品質(zhì)試片
I是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測(cè)試片。用于：將激磁次數(shù)降至Z少，以提高生產(chǎn)效率；
確定磁場(chǎng)方向和相對(duì)的磁場(chǎng)強(qiáng)度；
平衡多向磁場(chǎng)。
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
I試片
定量品質(zhì)試片
I是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測(cè)試片。用于：將激磁次數(shù)降至zui少，以提高生產(chǎn)效率；
確定磁場(chǎng)方向和相對(duì)的磁場(chǎng)強(qiáng)度；
平衡多向磁場(chǎng)。
不同深度的I試片
用于定量要求更高的作業(yè)，缺陷呈三個(gè)不同深度的同心圓環(huán)。
件號(hào)：519632 型號(hào)：KSCT-234不同深度的I試片，缺陷深度為試片厚度的20%、30%、40%，試片厚度為0.002英寸
產(chǎn)品關(guān)鍵字：KSCT-234不同深度的I試片