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I試片
定量品質(zhì)試片
I是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測(cè)試片。用于：將激磁次數(shù)降至Z少，以提高生產(chǎn)效率；
確定磁場(chǎng)方向和相對(duì)的磁場(chǎng)強(qiáng)度；
平衡多向磁場(chǎng)。
產(chǎn)品分類(lèi)品牌分類(lèi)
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
I試片
定量品質(zhì)試片
I是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測(cè)試片。用于：將激磁次數(shù)降至zui少，以提高生產(chǎn)效率；
確定磁場(chǎng)方向和相對(duì)的磁場(chǎng)強(qiáng)度；
平衡多向磁場(chǎng)。
小型I試片
與KSC-230相似，于工件上的小區(qū)域，每片上四個(gè)圓，可切割開(kāi)，可單獨(dú)使用
件號(hào)：519631 型號(hào)：KSC-4-230小型I試片，每片上四個(gè)基圓，缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.002英寸
產(chǎn)品關(guān)鍵字：KSC-4-230小型I試片