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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電氣 |
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AT610D 采用高能處理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能電容測試儀。
AT261X系列是電容測試儀，采用高性能32位ARM微處理器控制的全自動實時檢測的微型臺式儀器。儀器可以選擇200kHz（AT2616）的測試頻率，并可選擇0.1V，0.3V，0.5V和1.0Vrms的測試信號電平。
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
anbai安柏AT610D電容測試儀
AT610D
電容測試儀
- 021年全新第6版，使用新技術(shù)重新設(shè)計的AT610D，穩(wěn)定性更佳，全新按鍵設(shè)計，操作更簡單。
AT610D 采用高能處理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能電容測試儀。
內(nèi)建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測試頻率，并且提供0.1V、0.3V和1V測試電平，使其能滿足一般生產(chǎn)現(xiàn)場的使用。
內(nèi)置RS232C接口，兼容SCPI編程語言，很容易與計算機(jī)通訊，完成所有儀器功能。
內(nèi)置Handler接口，配合RS232C接口完成復(fù)雜的自動控制系統(tǒng)。
特征
高亮度，超清晰四色VFD顯示。
校正功能：開路和短路掃頻或點(diǎn)頻清零。
第三窗口可同時顯示ΔABS, Δ%和分選結(jié)果。
比較器（分選）功能: P1-P3,NG,AUX分選結(jié)果顯示和輸出?？蛇x9檔分選。
內(nèi)置RS232C接口和Handler接口。
1000V沖擊保護(hù)
規(guī)格
| 測量參數(shù) | C,D |
| 基本準(zhǔn)確度 | 0.1% |
| 測試頻率 | 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz |
| 測試量程 | 自動、手動和標(biāo)稱量程，6量程 |
| 測試速度 | 3 次/秒 8次/秒 20次/秒 |
| 顯示范圍 | C: 0.01pF – 9999.9μF D, 0.00001 – 9.99999 |
| 輸出阻抗 | 30和100Ω |
| 監(jiān)視參數(shù) | Δ, Δ% |
| 讀數(shù) | 所有參數(shù)全5位：99999 |
| 等效方式 | 串聯(lián)和并聯(lián)等效 |
| 信號電平 | 0.1Vrms, 0.3Vrms 和 1Vrms |
| 觸發(fā)方式 | 內(nèi)部、手動、外部 |
| 比較器 | 5檔分選，P1/P2/P3/AUX/NG |
| 比較方式 | PER |
| 校準(zhǔn) | 開路清零、短路清零 |
| 訊響功能 | 關(guān)/合格/不合格 |
| 接口 | RS232/HANDLER |
| 通訊協(xié)議 | SCPI |
| 電源要求 | AC 98V-240V, 50Hz-60Hz 15W MAX |
| 尺寸與重量 | 264 (寬)x107(高)x350 (深) 4kg,凈重 |
anbai安柏AT610D電容測試儀
AT2617
電容測試儀
AT261X系列是電容測試儀，采用高性能32位ARM微處理器控制的全自動實時檢測的微型臺式儀器。儀器可以選擇200kHz（AT2616）的測試頻率，并可選擇0.1V，0.3V，0.5V和1.0Vrms的測試信號電平。
主副參數(shù)全5位顯示，可以同時顯示Z、R、A、A%的一種。高達(dá)0.1%的準(zhǔn)確度，使本儀器可滿足自動化設(shè)備制造廠家、各元件生產(chǎn)和使用廠家、學(xué)校、研究所和計量質(zhì)檢部門進(jìn)行精確測試和批量生產(chǎn)的要求。
儀器擁有專業(yè)分選功能，具有10組存儲文件，可編程3檔合格檔，1檔附屬檔（副參數(shù)不合格），1檔不合格檔和主參數(shù)HI/IN/LO檔，可設(shè)置百分比分選或絕對值分選，配備USB接口、Handler接口和RS-232C接口改良設(shè)計的AT261X，加強(qiáng)了整機(jī)抗干擾電路和保護(hù)電路，滿足自動化設(shè)備（分選機(jī)、老化機(jī)等）的復(fù)雜使用環(huán)境。
特征
真彩TFT-LCD顯示。
儲存999個LCD畫面檔案，觸發(fā)延遲
校正功能：全量程程開路和短路掃頻清零
校準(zhǔn)功能
比較器功能（分選功能）
文件功能：儀器內(nèi)部Flash存儲器有10個文件可供您用來保存儀器數(shù)據(jù)，
可編程1～256次平均次數(shù)，提供穩(wěn)定性。
自定義分選結(jié)果訊響。
內(nèi)置RS232C/RS485/USB接口和Handler接口，可選GPIB接口。
SCPI和Modbus 通信協(xié)議。
規(guī)格
| 測量參數(shù) | Cs-Rs, Cs-D, Cp-Rp, Cp-D, Rs-Q,Rp-Q, Z-D, Z-Q |
| 基本準(zhǔn)確度 | 0.1% |
| 測試頻率 | 100, 120, 1kHz, 10kHz, 100kHz 0.01% |
| 測試量程 | 自動、手動和標(biāo)稱量程，9量程 |
| 測試速度 | 30 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒 |
| 顯示范圍 | C: 0.0001pF – 9.9999mF R,Z: 0.0001Ω - 99.999MΩ D, 0.0001 – 9.9999 Q: 0.0001 – 9999.9 Δ%: -999.999% - 999.999% |
| 輸出阻抗 | 30Ω，100Ω |
| 監(jiān)視參數(shù) | Z, R, Δ, Δ% |
| 讀數(shù) | 99999 |
| 等效方式 | 串聯(lián)和并聯(lián)等效 |
| 信號電平 | ACV：10.00mV~2.00V,準(zhǔn)確度：10%,CV模式準(zhǔn)確度：6% |
| 平均次數(shù) | 1~256 |
| 觸發(fā)方式 | 內(nèi)部、手動、外部和遠(yuǎn)程 |
| 觸發(fā)延時 | 0.01ms~60s |
| 比較器 | 合格檔（BIN1-BIN3）：表示主副參數(shù)均合格； 附屬檔（AUX）：表示附屬檔打開時，主參數(shù)合格但副參數(shù)不合格； 不合格檔（OUT）：主參數(shù)不合格，或者，附屬檔關(guān)閉時主參數(shù)合格但副參數(shù)不合格。 HI/IN/LO：主參數(shù)更詳細(xì)的比較結(jié)果，HI：主參數(shù)偏高，LO：主參數(shù)偏低，IN：主參數(shù)合格 |
| 比較方式 | 順序/絕對偏差/相對偏差 |
| 校準(zhǔn) | 開路清零、短路清零（掃頻和點(diǎn)頻) |
| 文件 | 內(nèi)部存儲10個文件 外部USB存儲10個文件 |
| 數(shù)據(jù)記錄 | 9999 組文件（.csv) |
| 訊響功能 | 關(guān)/合格/不合格 |
| 接口 | 處理機(jī)（Handler）接口/RS232接口/RS485接口/GPIB接口（選件） |
| 通訊協(xié)議 | SCPI/Modbus |
| 電源要求 | 90V-260VAC，50Hz至60Hz |
| 尺寸與重量 | 264(寬)x107(高)x349.5 (深) 3kg,凈重 |