M1標(biāo)準(zhǔn)磁粉探傷試片

M1標(biāo)準(zhǔn)磁粉探傷試片符合JB4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)，用于驗證磁粉探傷的綜合性能。一套包含2片。是磁粉探傷的常用備件。 

該標(biāo)準(zhǔn)磁粉探傷試片用于檢驗磁粉探傷設(shè)備、磁粉、磁懸液的綜合性能（系統(tǒng)靈敏度），及磁化方向、有效磁化范圍和大致的有效磁場強度以及考察所采用的探傷工藝規(guī)程。
A1型磁粉標(biāo)準(zhǔn)試片按HB/T6065-04標(biāo)準(zhǔn)制作，是磁粉探傷*的工具。
規(guī)格：-15/100
        -30/100
        -60/100
        -7/50
        -15/50
        -30/50
后三種適用于有曲率的探傷面。
其他試片有C2型，D1型。

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