誤差對(duì)電子天平造成的影響有多大
在檢定(測(cè)試)中我們發(fā)現(xiàn),對(duì)科恩KERN電子天平進(jìn)行計(jì)量測(cè)試時(shí)誤差較大,究其原因,在較長(zhǎng)的時(shí)間間隔內(nèi)未進(jìn)行校準(zhǔn),而且認(rèn)為科恩KERN電子天平顯示零位便可直接稱量。使用這些電子天平時(shí),我們往往會(huì)遇到天平的重復(fù)性誤差、線性誤差、四角誤差等參數(shù),它究竟對(duì)電子天平有什么影響呢?
(1)重復(fù)性或標(biāo)準(zhǔn)偏差是表達(dá)電子天平是否達(dá)到所標(biāo)度的指標(biāo),該電子天平指標(biāo)不是一次測(cè)量得來(lái)的,而是將連續(xù)n次測(cè)量的結(jié)果用統(tǒng)計(jì)學(xué)方法計(jì)算出標(biāo)準(zhǔn)偏差,即重復(fù)性指標(biāo)。
e=(Xi-X)2/(n-1)
e—重復(fù)性或標(biāo)準(zhǔn)偏差
X—每次測(cè)量結(jié)果的算術(shù)平均值
Xi—每次的測(cè)量結(jié)果
n—測(cè)量次數(shù)(n=6,中國(guó)n=11)
(2)電子天平的四角誤差
將稱量物體放在稱盤上的不同位置,其測(cè)結(jié)果應(yīng)大致相同,而允許有一定的偏差,這個(gè)值就是zui大四角誤差.四角誤差的檢測(cè)方法如下:
根據(jù)建議OIML所述是依據(jù)電子天平滿量程的1/3重量及稱盤半徑1/3的位置來(lái)對(duì)天平進(jìn)行測(cè)量,四角誤差的出現(xiàn)有些是由于傳感器的結(jié)構(gòu)與裝配上產(chǎn)生的偏差所造成的,而zui大的誤差是由于上下連動(dòng)杠桿的長(zhǎng)度不一致所產(chǎn)生的。
(3)電子天平的線性誤差
電子天平本身的放大量與顯示值不成線性變化,而是有偏差,即線性誤差。這一誤差是不能*避免的,只能選擇線性誤系數(shù)小的組件以使誤差盡量小。電子天平為了能夠保證度及線性誤差等因素,多采用多點(diǎn)標(biāo)定,即每個(gè)標(biāo)定點(diǎn)的誤差是zui小的,利用微分的形式,把弧線誤差盡量多的分成幾段,弧線越短,越近似于直線,偏差就越小。