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當前位置:> 供求商機> NY-103-上海納優(yōu) 低對比度細節(jié)檢測模體
NY-103低對比度檢測模體
產(chǎn)品簡介
NY-103低對比度檢測模體
2.低對比度檢測模體用于檢測X光機和透視機的低對比分辨力。
3.包括一塊18cm X 18cm X 0.8mm鋁板,兩塊18cm X 18cm X 2cm鋁板。
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NY-103低對比度檢測模體
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3.包括一塊18cm X 18cm X 0.8mm鋁板,兩塊18cm X 18cm X 2cm鋁板。
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NY-103低對比度檢測模體
2.低對比度檢測模體用于檢測X光機和透視機的低對比分辨力。
3.包括一塊18cm X 18cm X 0.8mm鋁板,兩塊18cm X 18cm X 2cm鋁板。
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